[发明专利]一种数字逻辑自动测试装置及方法

权利要求书

1.一种数字逻辑自动测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：依次连接的输入串行寄存器、输入寄存器、测试模块、输出寄存器和输出串行寄存器；

所述输入串行寄存器用于接收通过标准JTAG接口扫入的外部数据，再并行送入所述输入寄存器；

所述输入寄存器用于将接收到的所述外部数据输入所述测试模块；

所述测试模块用于基于所述外部数据中的工作模式，根据所述外部数据和外部输入的启动信号进行测试，测试完成后，将测试结果保存在所述输出寄存器，所述工作模式包括：单步测试模式、向量加载模式和自测试模式；

所述输出寄存器用于将所述测试结果并行输入所述输出串行寄存器；

所述输出串行寄存器用于将接收到的所述测试结果通过所述标准JTAG接口扫出；

所述输入寄存器包括：控制DFF和数据DFF，所述输出寄存器包括：输出DFF；

所述控制DFF用于将所述外部数据中的控制信息输入所述测试模块；

所述数据DFF用于将所述外部数据中的数据信息输入所述测试模块；

所述输出DFF用于将所述测试模块的测试结果输出至所述输出串行寄存器；

所述测试模块具体用于根据所述控制DFF输入的控制信息确定对应的工作模式，根据所述工作模式、所述数据DFF输入的数据信息以及外部输入的启动信号进行测试，测试完成后，将测试结果保存所述输出DFF；

所述启动信号用于判断所述控制信息和所述数据信息是否有效，当所述控制信息和所述数据信息均有效时所述测试模块开启对应的工作模式；

所述测试模块包括：测试控制器，以及与所述测试控制器连接的输入向量存储器、结果向量存储器和待测电路；

所述测试控制器用于：

当确定所述工作模式为单步测试模式时，将所述数据DFF输入的数据信息加载入所述待测电路，经所述待测电路逻辑运算后，将测试结果输出至所述输出DFF；

当确定所述工作模式为向量加载模式时，对所述数据DFF输入的数据信息进行地址解析，根据解析结果和所述数据信息中的向量类型将所述数据信息存储在所述输入向量存储器或所述结果向量存储器中；

当确定所述工作模式为自测试模式时，从所述输入向量存储器读出待测数据，经过所述待测电路逻辑运算后得到测试数据，将所述测试数据与从所述结果向量存储器中读出的结果数据进行比较，得到测试结果输出至所述输出DFF。

2.根据权利要求1所述的一种数字逻辑自动测试装置，其特征在于，所述测试模块还包括：与所述测试控制器连接的第一数据选择器、第二数据选择器、第三数据选择器和第四数据选择器，所述第一数据选择器、所述第二数据选择器、所述待测电路、所述第三数据选择器和所述第四数据选择器依次连接；

所述测试控制器用于：

当确定所述工作模式为单步测试模式时，将所述数据DFF输入的数据信息依次经所述第一数据选择器、所述第二数据选择器加载入所述待测电路，经所述待测电路逻辑运算后，将测试结果依次经所述第三数据选择器、所述第四数据选择器输出至所述输出DFF。

3.根据权利要求2所述的一种数字逻辑自动测试装置，其特征在于，所述第一数据选择器与所述输入向量存储器和所述结果向量存储器连接；

所述测试控制器用于：

当确定所述工作模式为向量加载模式时，对所述数据DFF输入的数据信息进行地址解析，若所述数据信息中的向量类型为输入向量，则根据解析得到的地址将所述数据信息作为待测数据经所述第一数据选择器加载入所述输入向量存储器，若所述数据信息中的向量类型为结果向量，则根据解析得到的地址将所述数据信息作为结果数据经所述第一数据选择器加载入所述结果向量存储器。

4.根据权利要求3所述的一种数字逻辑自动测试装置，其特征在于，所述测试模块还包括：结果比较器，所述结果比较器与所述测试控制器、所述第三数据选择器、所述第四数据选择器和所述结果向量存储器连接；

所述测试控制器用于：

当确定所述工作模式为自测试模式时，将从所述输入向量存储器读出的待测数据经过所述第二数据选择器加载入所述待测电路，经所述待测电路逻辑运算后得到测试数据，将所述测试数据经所述第三数据选择器输入所述结果比较器，所述结果比较器将所述测试数据与从所述结果向量存储器中读出的结果数据进行比较，得到测试结果，经所述第四数据选择器输出至所述输出DFF。