[发明专利]一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块在审

专利信息
申请号: 201910652643.7 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110221152A 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 夏瑞华;龚萍;胡鹏涛;俞子聪;张泉;朱永强 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/00;G01R1/04;G05B19/042
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102206*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块涉及电力系统继电保护测试仪领域。电力系统继电保护测试仪由数据处理插件、测试信号产生插件和其它插件组成。当前,数据处理插件与测试信号产生插件之间的通讯速度较小,测试信号的路数较少,不符合继电保护测试仪的发展趋势。本发明为数据处理插件与测试信号产生插件之间的通讯设计了一系列电路模块,该模块能使通讯速度较快、电磁兼容性较好、占用资源较少,可以满足各种配置下继电保护测试仪的要求。这一系列电路模块,包括高速RAM模块、并转串模块和LVDS接口模块。在数据处理插件与测试信号产生插件之间,采用LVDS差分线连接。对LVDS差分线两端的连接器采用金属锚定以确保连接可靠,并带屏蔽以防止电磁干扰。
搜索关键词: 插件 测试信号产生 电路模块 数据处理 继电保护测试仪 电力系统继电保护 高速通讯 内部插件 测试仪 差分线 继电保护测试 连接器 并转串模块 电磁兼容性 测试信号 电磁干扰 通讯设计 占用资源 高速RAM 金属锚 路数 屏蔽 通讯 配置
【主权项】:
1.一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块,电力系统继电保护测试仪由数据处理插件、测试信号产生插件和其它插件组成,数据处理插件在其CPU等的控制下产生大量的数据,该数据首先保持在RAM中,然后在适当的时候将这些数据发往测试信号产生插件,最后测试信号产生插件负责根据传送来的数据在预定时间和预定输出接口上产生合格的测试信号,数据处理插件与测试信号产生插件之间的通讯信号常采用TTL或CMOS型信号,这种数继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块的特征在于:数据处理插件与测试信号产生插件之间的通讯由一系列电路模块实现,包括高速RAM模块、并转串模块和LVDS接口模块,在数据处理插件与测试信号产生插件之间采用LVDS差分线连接,对LVDS差分线两端的连接器采用金属锚定以确保连接可靠,并带屏蔽以防止电磁干扰。
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