[发明专利]一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块在审
| 申请号: | 201910652643.7 | 申请日: | 2019-07-19 | 
| 公开(公告)号: | CN110221152A | 公开(公告)日: | 2019-09-10 | 
| 发明(设计)人: | 夏瑞华;龚萍;胡鹏涛;俞子聪;张泉;朱永强 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 | 
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/00;G01R1/04;G05B19/042 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 102206*** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 插件 测试信号产生 电路模块 数据处理 继电保护测试仪 电力系统继电保护 高速通讯 内部插件 测试仪 差分线 继电保护测试 连接器 并转串模块 电磁兼容性 测试信号 电磁干扰 通讯设计 占用资源 高速RAM 金属锚 路数 屏蔽 通讯 配置 | ||
1.一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块,电力系统继电保护测试仪由数据处理插件、测试信号产生插件和其它插件组成,数据处理插件在其CPU等的控制下产生大量的数据,该数据首先保持在RAM中,然后在适当的时候将这些数据发往测试信号产生插件,最后测试信号产生插件负责根据传送来的数据在预定时间和预定输出接口上产生合格的测试信号,数据处理插件与测试信号产生插件之间的通讯信号常采用TTL或CMOS型信号,这种数继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块的特征在于:数据处理插件与测试信号产生插件之间的通讯由一系列电路模块实现,包括高速RAM模块、并转串模块和LVDS接口模块,在数据处理插件与测试信号产生插件之间采用LVDS差分线连接,对LVDS差分线两端的连接器采用金属锚定以确保连接可靠,并带屏蔽以防止电磁干扰。
2.根据权利要求1所述的一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块,其特征在于,数据处理插件与测试信号产生插件之间的LVDS差分线数量,最多为8对,每对最高通讯速率为每秒500兆,对LVDS通道上的信息以帧为单位来进行差错控制传输,每帧信息包括帧同步码,循环码校验信息等,各LVDS上的帧发送为同步发送。
3.根据权利要求1所述的一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块,其特征在于,首先把需要发送的数据写入到双口RAM块中,写入时钟最高达125兆Hz,然后从双口RAM块读出数据并发送到并转串模块,再后把并转串模块的输出数据传送到LVDS接口模块,最后LVDS接口模块把并转串模块送来的各帧数据打包,并同步发送到测试信号产生插件的通讯接口模块。
4.根据权利要求1所述的一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块,其特征在于,高速RAM模块的双口RAM块存储4个通道的各帧数据,在地址选择信号的控制下依次输出到并转串模块,并转串模块把并行输入信号转换成4个通道的串行输出信号,并转串模块全部四个通道的输出信号是同步的,各帧的第1位数据是同时输出的,并转串模块的输入和输出信号速率最高达125兆Hz,并转串模块输入信号为8位且采用Altera类型芯片时,并转串模块占用的资源较少,为16个LE。
5.根据权利要求1所述的一种继电保护测试仪内部插件间的高速通讯电路模块,其特征在于,LVDS接口模块的输入包括来自并转串模块输出的4个信号、若干定时信号和若干控制信号,输出是一对高速lvds差分信号,LVDS接口模块的4个输入信号可以来自不同的并转串模块,如果输入信号速率为125兆Hz则输出信号速率为500兆Hz。
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