[发明专利]自旋效应微电子集成测试台有效
| 申请号： | 201910540658.4 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN110220930B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 栾仲智;缪冰锋;赵辉;周礼繁;吴镝 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N24/00 | 分类号： | G01N24/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210093 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自旋效应微电子集成测试台，该测试台包括处于稳恒磁场中并绕水平轴旋转的样品台，所述样品台包括用于测量样品电信号的测量单元、用于在样品处形成激发其产生自旋流的微波场的微波单元、以及用于在垂直于样品平面的方向上建立温度梯度的加热单元。本发明无需重新制样，对同一样品中的多种自旋效应相关参数进行多次测量，节约测量时间，还可以同时对样品施加直流电流、微波及温度梯度，用于测量多种参数之间的相互耦合效应。 | ||
| 搜索关键词： | 自旋 效应 微电子 集成 测试 | ||
【主权项】：
1.一种自旋效应微电子集成测试台，其特征在于：该测试台包括系统电源和处于稳恒磁场中并绕水平轴旋转的样品台(17)，所述样品台(17)包括用于测量样品中电信号的测量单元、用于在样品处形成微波场的微波单元以及用于在垂直于样品平面的方向上建立温度梯度的加热单元。
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