[发明专利]检查装置有效
申请号: | 201910503406.4 | 申请日: | 2019-06-11 |
公开(公告)号: | CN110609439B | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 堀田浩司 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G03F1/84 | 分类号: | G03F1/84;G01N21/95 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飞亚;习冬梅 |
地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 检查装置20包括至少具有接收自多个像素(周期性检查对象物)PX有周期地并列地设置的主液晶面板(检查对象基板)10M的光的光接收元件25、以及用以在光接收元件25使光成像的成像部件26,并摄影与像素PX有关的图像的照相机(摄影部)21;经由将通过照相机21摄影的图像与参照图像进行比较,判定像素PX的好坏的判定部31;经由使光接收元件25与成像部件26相对位移,或者使主液晶面板10M与照相机21相对位移,将照相机21的光学分辨率的数值调整成像素PX的周期的整数分之一的分辨率调整部32。 | ||
搜索关键词: | 检查 装置 | ||
【主权项】:
1.一种检查装置,其特征在于,/n包括:/n摄影部,至少具有接收自多个周期性检查对象物有周期地并列地设置的检查对象基板的光的光接收元件、以及用以在所述光接收元件使所述光成像的成像部件,并摄影与所述周期性检查对象物有关的图像;/n判定部,经由将通过所述摄影部摄影的所述图像与参照图像进行比较,判定所述周期性检查对象物的好坏;以及/n分解能调整部,经由使所述光接收元件与所述成像部件相对位移,或者使所述检查对象基板与所述摄影部相对位移,将所述摄影部的分解能的数值调整成所述周期性检查对象物的周期的整数分之一。/n
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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