[发明专利]测试被测装置的天线的消声测试室、测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201910434627.0 | 申请日： | 2019-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN110535540B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 樊尚·阿巴迪;科比特·罗威尔;伯努瓦·德拉特 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;许静 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及测试被测装置的天线的消声测试室、测试系统及测试方法。用于对被测装置DUT的天线进行测试的消声测试室，测试室包括：测试区域，具有用于接纳DUT的测试表面，其中在测试模式中测试表面形成DUT的测量区域，DUT包括至少一个天线阵列，至少一个天线阵列具有多个多入多出MIMO天线；至少一个反射器紧缩天线测试场CATR，包括第一测量天线和一个成形反射器，其中反射器用于产生第一静区；至少一个第二测量天线，其中第二测量天线被布置在测试室内以在测试表面上产生第二静区；输入/输出端，用于将测试室连接至测试设备，其中输入/输出端连接至第一天线和第二天线。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 天线 消声 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于对被测装置DUT的天线进行测试的消声测试室，所述测试室包括：/n测试区域，该测试区域具有用于接纳所述DUT的测试表面，其中在测试模式中所述测试表面形成所述DUT的测量区域，并且其中所述DUT包括至少一个天线阵列，所述至少一个天线阵列具有多个多入多出MIMO天线；/n至少一个反射器紧缩天线测试场CATR，所述至少一个反射器紧缩天线测试场CATR包括第一测量天线和一个成形反射器，其中所述反射器用于产生第一静区；/n至少一个第二测量天线，其中所述第二测量天线被布置在所述测试室内以在测试表面上产生第二静区；/n输入/输出端，所述输入/输出端用于将所述测试室连接至测试设备，其中所述输入/输出端连接至第一天线和第二天线。/n
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