[发明专利]测试被测装置的天线的消声测试室、测试系统及测试方法

说明书

本申请涉及测试被测装置的天线的消声测试室、测试系统及测试方法。用于对被测装置DUT的天线进行测试的消声测试室，测试室包括：测试区域，具有用于接纳DUT的测试表面，其中在测试模式中测试表面形成DUT的测量区域，DUT包括至少一个天线阵列，至少一个天线阵列具有多个多入多出MIMO天线；至少一个反射器紧缩天线测试场CATR，包括第一测量天线和一个成形反射器，其中反射器用于产生第一静区；至少一个第二测量天线，其中第二测量天线被布置在测试室内以在测试表面上产生第二静区；输入/输出端，用于将测试室连接至测试设备，其中输入/输出端连接至第一天线和第二天线。

技术领域

本发明涉及用于对被测装置的天线进行测试的消声测试室。本发明还涉及包括这种测试室的测试系统以及用于使用这种测试室对被测装置的天线进行测试的测试方法。

背景技术

例如蜂窝电话的无线电子装置和其它无线电子装置具有无线能力。这些无线能力可以用于支持语音和数据通信。在制造期间，无线电子装置一般被测试以确定它们的无线功能是否正确地工作。测试天线、特别地测试它们的特性特别重要。为了这个目的且为了提供可靠的测试结果，使用包括封闭的消声RF屏蔽室、盒或箱的合适的测试设备来测试无线电子装置。在测试期间，无线电子装置被放置于消声测试室内，该消声测试室包括与测试设备连接的天线。测试设备可以在测试期间使用天线与无线电子装置进行无线通信。US2010/0113011 A1对该测试室进行了描述。

所谓的紧缩天线测试场(CATR)是用于以缩小的范围长度进行电大尺寸天线的宽带表征的广泛部署技术。偏置反射器通常用于产生CATR的静区。存在特别针对反射器而不同的若干类型的CATR。抛物面反射器的曲率和位置的性质及其边缘几何形状确保所产生的准直场包括伪横向电磁(TEM)波。因此，通过将馈源的像投射到无穷远处，CATR合成了与实际上将平面波耦合到天线孔径产生典型的测量“远场”辐射图的情况相比，天线位于距离馈源远得多的位置的情况下入射到DUT的天线上的类型的波前。

现代无线电子装置不仅包括单个天线。替代地，这些无线电子装置典型地包括关于不同的信号波长、强度、幅度、方向等被优化的至少两个天线阵列——所谓的多入多出(MIMO)天线。此外，信号经常从一个信道或天线被传递至另一信道或天线。在远程通信中，此过程被表示为切换。

传统的仅采用一个CATR的测试设备不能测试现代无线电子装置的该特定切换功能。

这是需要改进的情况。

发明内容

因此针对背景技术，希望提供改进的用于测试例如蜂窝电话的无线电子装置的方式。特别地希望提供空间MIMO测量。

此问题根据本发明由主要权利要求中限定的测试室和/或测试系统和/或方法解决。

据此提供了如下内容：

-一种用于对被测装置(DUT)的天线进行测试的消声测试室，该测试室包括：测试区域，具有用于接纳DUT的测试表面，其中在测试模式中测试表面形成DUT的测量区域，并且其中该DUT包括至少一个天线阵列，该至少一个天线阵列具有多个多入多出(MIMO)天线；至少一个反射器紧缩天线测试场(CATR)，包括第一测量天线和一个成形反射器，其中反射器用于产生第一静区；至少一个第二测量天线，其中第二测量天线被布置在该测试室内以在测试表面上产生第二静区；输入/输出端，用于将测试室连接至测试设备，其中输入/输出端连接至第一天线和第二天线。

-一种用于测试被测装置(DUT)的测试系统，该测试系统包括：根据本发明的消声测试室；测试设备，该测试设备连接至输入/输出端且被配置为经由CATR和至少一个第二天线将测试数据流发送至被放置于测试表面上的DUT以及接收和分析相应的响应数据流。