[发明专利]测试被测装置的天线的消声测试室、测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种适用于对无线被测装置DUT的天线进行测试的消声测试室，所述DUT包括至少一个天线阵列，所述至少一个天线阵列具有多个空间间隔或分离的多入多出MIMO天线，所述测试室包括：

测试区域，该测试区域具有用于接纳所述DUT的测试表面，其中在测试模式中所述测试表面形成所述DUT的测量区域；

至少一个反射器紧缩天线测试场CATR，所述至少一个反射器紧缩天线测试场CATR包括第一测量天线和一个成形反射器，其中所述第一测量天线关于所述成形反射器被布置在所述测试室内，并且所述成形反射器在所述测试室内成形和布置，以在所述测试表面上产生第一静区；

至少一个第二测量天线，其中所述第二测量天线被布置在所述测试室内以在所述测试表面上产生第二静区，使得所述第二静区小于所述第一静区；

输入/输出端，所述输入/输出端用于将所述测试室连接至测试设备，其中所述输入/输出端连接至第一天线和第二天线。

2.根据权利要求1所述的测试室，其中所述第一静区大于所述第二静区，所述第二静区是所述第一静区的组成部分。

3.根据权利要求1所述的测试室，其中所述第一静区和所述第二静区彼此重叠。

4.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中所述CATR被配置为在所述测试表面上建立所述第一静区，使得建立的第一静区能够在所述DUT被放置于所述测试表面上时完全覆盖所述DUT。

5.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中所述至少一个第二测量天线被配置为在所述测试表面上建立所述第二静区，使得建立的第二静区能够在所述DUT被放置于所述测试表面上时部分覆盖所述DUT。

6.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中所述第一测量天线和/或所述第二测量天线是喇叭天线。

7.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中所述测试区域、所述CATR和所述第二测量天线被布置在所述测试室内且被配置为测试DUT的至少两个空间间隔的MIMO天线阵列。

8.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中提供第一设置机构，所述第一设置机构耦合至所述反射器且被配置为在测试模式中改变所述反射器的形状和/或由所述反射器反射的波束的方向。

9.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中提供第二设置机构，所述第二设置机构耦合至所述第一测量天线和/或所述第二测量天线且被配置为在测试模式中改变分别由所述第一测量天线或所述第二测量天线发射的波束的方向。

10.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中提供第一调节机构，所述第一调节机构耦合至所述测试区域且被配置为在至少一个维度移动所述测试区域。

11.根据前述权利要求1-3中的任一项所述的测试室，其中提供第二调节机构，所述第二调节机构在测试模式中能够与DUT连接且被配置为相对于所述第一静区和/或所述第二静区移动所述DUT。

12.一种用于对被测装置DUT的天线进行测试的测试系统，所述测试系统包括：

根据权利要求1至11中任一项所述的消声测试室；

测试设备，所述测试设备连接至所述输入/输出端，并且被配置为经由所述CATR和至少一个第二天线将测试数据流发送至被放置于所述测试表面上的DUT以及接收和分析相应的响应数据流。

13.根据权利要求12所述的测试系统，其中所述测试设备包括用于生成测试数据流的信号发生装置，并且其中所测试设备还包括用于对接收到的响应数据流进行分析的分析装置。

14.一种用于对被测装置DUT的天线进行测试的测试方法，通过采用根据权利要求12或13所述的测试系统，所述方法包括：

提供DUT，其中所述DUT包括至少两个空间间隔或分离的MIMO天线阵列；

将所述DUT放置于测试系统的测试室内的测试表面上；

通过使用CATR在所述测试表面上产生大的第一静区使得所述DUT被完全布置在所述第一静区内；

通过使用至少一个另外的测量天线在所述测试表面上产生较小的第二静区，使得所述第二静区小于所述第一静区和/或与所述第一静区重叠；

通过分析响应于经由所述CATR发送的第一测试流的第一接收数据流和通过分析响应于经由另外的天线发送的第二测试流的第二接收数据流，来执行MIMO型测量；

其中将所述DUT放置于测试表面上的步骤包括：将所述DUT放置于所述测试表面上使得所述DUT的所述MIMO天线阵列被完全布置在所述第一静区内且被部分布置在所述第二静区内。