[发明专利]光学检测设备在审
| 申请号： | 201910405200.8 | 申请日： | 2019-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN110031470A | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 成奎 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学检测设备，包括：图像采集模块、图像处理模块、工装治具；其中，光学检测设备具有至少一个上料侧和至少一个取像侧，图像采集模块包括主视相机模块和多个第一侧视相机模块，每个取像侧设置有至少两个所述第一侧视相机模块。本发明提供的光学检测设备结构简单，而且更方便切换机种使用，不仅提高整机检测精度，同时也极大地增加整机应用灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学检测设备 相机模块 图像采集模块 侧视 取像 整机 图像处理模块 应用灵活性 工装治具 机种 上料 主视 检测 | ||
【主权项】：
1.一种光学检测设备，包括：图像采集模块、图像处理模块、工装治具，其特征在于，所述光学检测设备具有至少一个上料侧和至少一个取像侧，所述图像采集模块包括主视相机模块和多个第一侧视相机模块，每个所述取像侧设置有至少两个所述第一侧视相机模块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910405200.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
