[发明专利]光学检测设备在审
| 申请号: | 201910405200.8 | 申请日: | 2019-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN110031470A | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
| 发明(设计)人: | 成奎 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学检测设备 相机模块 图像采集模块 侧视 取像 整机 图像处理模块 应用灵活性 工装治具 机种 上料 主视 检测 | ||
本发明公开了一种光学检测设备,包括:图像采集模块、图像处理模块、工装治具;其中,光学检测设备具有至少一个上料侧和至少一个取像侧,图像采集模块包括主视相机模块和多个第一侧视相机模块,每个取像侧设置有至少两个所述第一侧视相机模块。本发明提供的光学检测设备结构简单,而且更方便切换机种使用,不仅提高整机检测精度,同时也极大地增加整机应用灵活性。
技术领域
本发明涉及光学检测领域,尤其涉及到一种光学检测设备。
背景技术
随着显示屏技术的迅猛发展,高密度产品已经逐渐成为市场的新宠,精细、逼真的显示效果让客户对其青睐有加,目前显示屏市场竞争异常激烈,用户对显示屏的品质要求也在不断的提高,这便促使显示屏的生产商必须对生产的每一个环节严格把关,在保证屏质量的同时,也要特别注意出厂的显示屏刮伤以及亮点等缺陷。
通常,当显示屏完成制造后,屏检人员需要采用人工作业方式显示屏进行检测,此种方法不仅劳动强度,而且长时间检测会导致工人疲劳,进而导致检测出来的结果存在巨大的差异,很难确保产品的质量。另外,人工检测难以对检测结果进行一个有效的统计,不便于对后期产生工艺的分析和优化改造。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种光学检测设备,用以克服现有技术中所存在的上述问题。
本发明提供的一种光学检测设备,包括:图像采集模块、图像处理模块、工装治具;其中,所述光学检测设备具有至少一个上料侧和至少一个取像侧,所述图像采集模块包括主视相机模块和多个第一侧视相机模块,每个取像侧设置有至少两个所述第一侧视相机模块。
本发明提供的上述光学检测设备在一个主视相机机构基础上,再使用单边多侧视相机机构,可以识别主视相机无法检出的剩余缺陷,满足更高检测稳定性要求,通过适当降低相机镜头硬件和光学机构制造成本,结构简单,而且更方便切换机种使用,不仅提高整机检测精度,同时也极大地增加整机应用灵活性。
附图说明
图1为本发明的一个实施例所提供的光学检测设备的检测方法流程图;
图2是本发明的一个实施例所提供的光学检测设备的局部3D立体结构示意图;
图3是本发明的一个实施例所提供的光学检测设备的局部正视图;
图4是图3相应部分的侧视图;
图5是图3相应部分的俯视图;
图6是图2中第一侧视相机模块部分的放大图;
图7是图4中第一侧视相机模块部分的放大图;
图8是本发明的一个实施例所提供的光学检测设备示意图。
具体实施方式
为了更好的理解上述技术方案,下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
伴随光机电信息技术飞速发展,液晶屏幕大量推广使用。各大主流面板厂为了保证液晶显示屏的生产合格率和品质,其中背光源作为显示屏光源提供者,功能作用举足轻重,因此在生产组装背光源产品后,需要对其进行一系列的点亮测试和脏污等不良检测。点亮测试可以检测背光源产品有无发光,亮度是否均匀,异物和脏污等不良,直接影响到成品的组装质量和最终品质,因此在背光源产品的检测中尤为重要。通常通过点亮检测治具对背光源产品进行点亮检测,难免会存在一些外观品质缺陷,人的肉眼又较难以识别,以确保背光源的品质达到生产要求。必须对其点亮外观缺陷进行检查和分类筛选判断。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910405200.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





