[发明专利]实验室风险目标质量控制图绘制方法

摘要

本发明涉及实验室风险目标质量控制技术，其公开了一种实验室风险目标质量控制图绘制方法，解决现有技术中的质控方案存在的需要繁琐的规则、无法直观评估质控中的风险，而部分研究提出的风险评估方案复杂不利于推广使用的问题。该方法包括：计算体现实验室长期稳定程度的长期标准差值，计算实验室自身的误差分布参数，在每次实施质控时测定质控品，得到质控结果，根据贝叶斯定理计算检测系统的误差分布参数，计算不同误差存在的可能性，计算不同误差存在时超出允许总误差的概率，计算本次质控的总风险，将质控次数或天数作为横坐标，将质控总风险大小和质控结果作为纵坐标,绘制质控图，并在质控图中设置风险控制线。

主权项

1.实验室风险目标质量控制图绘制方法，其特征在于，包括以下步骤：s1.计算体现实验室长期稳定程度的长期标准差值：其中，TEa为检测项目的允许总误差，bias为通过室间质评获得的实验室的偏移；sigma_l为实验室长期sigma值；s2.计算实验室自身的误差分布参数：其中，u₀表示实验室误差分布的均数，sd₀表示误差分布标准差，mean、sd分别为通过一段时间的质控数据求得的质控的均值和质控标准差；s3.在每次实施质控时测定质控品，得到质控结果x，重复测定质控品的次数记作n_r，计算质控结果均数：s4.根据贝叶斯定理计算检测系统的误差分布参数：其中u_t表示检测系统误差分布的均数的概率密度函数的均数，sd_t表示其标准差；s5.计算不同误差存在的可能性：其中se表示系统误差的大小；s6.计算不同误差存在时超出允许总误差的概率，即此时出现不可靠样本的风险值：s7.计算本次质控的总风险：s8.将质控次数或天数作为横坐标，将质控总风险大小RM和质控结果x作为纵坐标,绘制质控图，并在质控图中设置风险控制线。