[发明专利]工艺数据监控方法及工艺数据监控系统在审
申请号: | 201910330460.3 | 申请日: | 2019-04-23 |
公开(公告)号: | CN110059968A | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 谢剑星 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G06Q10/06 | 分类号: | G06Q10/06;G07C3/14;G07C3/00;G06Q50/04 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;张洋 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种工艺数据监控方法及工艺数据监控系统。该工艺数据监控方法通过将分别对应生产多个显示面板的多个工艺数据划分为满足正态分布的多个第一工艺数据以及不满足正态分布的多个第二工艺数据,获取多个第一工艺数据与多个第二工艺数据中具有差异的多个关键因子,将对应产生关键因子的多个第一工艺数据进行数据拟合,得到拟合曲线,获取所有工艺数据与拟合曲线的残差,通过每一工艺数据对应的残差判断每一工艺数据为正常工艺数据或异常工艺数据,从而有效监控异常工艺数据,进而判断与每一工艺数据对应的显示面板为正常显示面板或异常显示面板,提升异常工艺产品拦截效率。 | ||
搜索关键词: | 工艺数据 正态分布 关键因子 监控系统 拟合曲线 显示面板 残差 监控 工艺产品 数据拟合 异常显示 有效监控 正常工艺 正常显示 拦截 生产 | ||
【主权项】:
1.一种工艺数据监控方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、获取生产设备用于分别对应生产多个显示面板的多个工艺数据,将多个工艺数据划分为满足正态分布的多个第一工艺数据以及不满足正态分布的多个第二工艺数据;步骤S2、获取多个第一工艺数据与多个第二工艺数据中具有差异的多个关键因子;步骤S3、将对应产生关键因子的多个第一工艺数据进行数据拟合,得到拟合曲线;步骤S4、获取所有工艺数据与拟合曲线的残差,通过每一工艺数据对应的残差判断每一工艺数据为正常工艺数据或异常工艺数据,从而判断与每一工艺数据对应的显示面板为正常显示面板或异常显示面板。
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G06 计算;推算;计数
G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法;其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10-00 行政;管理
G06Q10-02 .预定,例如用于门票、服务或事件的
G06Q10-04 .预测或优化,例如线性规划、“旅行商问题”或“下料问题”
G06Q10-06 .资源、工作流、人员或项目管理,例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源;企业规划;组织模型
G06Q10-08 .物流,例如仓储、装货、配送或运输;存货或库存管理,例如订货、采购或平衡订单
G06Q10-10 .办公自动化,例如电子邮件或群件的计算机辅助管理
G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法;其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
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