[发明专利]工艺数据监控方法及工艺数据监控系统在审

专利信息
申请号: 201910330460.3 申请日: 2019-04-23
公开(公告)号: CN110059968A 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 谢剑星 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G07C3/14;G07C3/00;G06Q50/04
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂;张洋
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种工艺数据监控方法及工艺数据监控系统。该工艺数据监控方法通过将分别对应生产多个显示面板的多个工艺数据划分为满足正态分布的多个第一工艺数据以及不满足正态分布的多个第二工艺数据,获取多个第一工艺数据与多个第二工艺数据中具有差异的多个关键因子,将对应产生关键因子的多个第一工艺数据进行数据拟合,得到拟合曲线,获取所有工艺数据与拟合曲线的残差,通过每一工艺数据对应的残差判断每一工艺数据为正常工艺数据或异常工艺数据,从而有效监控异常工艺数据,进而判断与每一工艺数据对应的显示面板为正常显示面板或异常显示面板,提升异常工艺产品拦截效率。
搜索关键词: 工艺数据 正态分布 关键因子 监控系统 拟合曲线 显示面板 残差 监控 工艺产品 数据拟合 异常显示 有效监控 正常工艺 正常显示 拦截 生产
【主权项】:
1.一种工艺数据监控方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、获取生产设备用于分别对应生产多个显示面板的多个工艺数据,将多个工艺数据划分为满足正态分布的多个第一工艺数据以及不满足正态分布的多个第二工艺数据;步骤S2、获取多个第一工艺数据与多个第二工艺数据中具有差异的多个关键因子;步骤S3、将对应产生关键因子的多个第一工艺数据进行数据拟合,得到拟合曲线;步骤S4、获取所有工艺数据与拟合曲线的残差,通过每一工艺数据对应的残差判断每一工艺数据为正常工艺数据或异常工艺数据,从而判断与每一工艺数据对应的显示面板为正常显示面板或异常显示面板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910330460.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top