[发明专利]工艺数据监控方法及工艺数据监控系统

说明书

本发明提供一种工艺数据监控方法及工艺数据监控系统。该工艺数据监控方法通过将分别对应生产多个显示面板的多个工艺数据划分为满足正态分布的多个第一工艺数据以及不满足正态分布的多个第二工艺数据，获取多个第一工艺数据与多个第二工艺数据中具有差异的多个关键因子，将对应产生关键因子的多个第一工艺数据进行数据拟合，得到拟合曲线，获取所有工艺数据与拟合曲线的残差，通过每一工艺数据对应的残差判断每一工艺数据为正常工艺数据或异常工艺数据，从而有效监控异常工艺数据，进而判断与每一工艺数据对应的显示面板为正常显示面板或异常显示面板，提升异常工艺产品拦截效率。

技术领域

本发明涉及生产技术领域，尤其涉及一种工艺数据监控方法及工艺数据监控系统。

背景技术

薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是目前液晶显示装置(Liquid CrystalDisplay，LCD)和有源矩阵驱动式有机电致发光显示装置(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode，AMOLED)中的主要驱动元件，直接关系平板显示装置的显示性能。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片(ColorFilter，CF)基板之间灌入液晶分子，并在两片基板上分别施加像素电压和公共电压，通过像素电压和公共电压之间形成的电场控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线透射出来产生画面。液晶显示面板成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、刻蚀及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

中国制造2025是基于新一代信息技术，贯穿设计、生产、管理及服务等制造活动各个环节，具有信息深度自感知、智慧优化自决策、精准控制自执行等功能的先进制造过程、系统与模式的总称。因此，现代制造业又迎来一次革命，实现自动化工厂向智能化工厂的转型，大数据做为人工智能(AI)算法的基础，如何应用好大数据，是转型中的重中之重。目前自动化工厂的数据采集是孤立的，数据的监控方式也是片面的，数据间的交互作用在自动化工厂的现有生产模式中很难被有效的监控。

发明内容

本发明的目的在于提供一种工艺数据监控方法，可以有效监控异常工艺数据，提升异常工艺产品拦截效率。

本发明的目的还在于提供一种工艺数据监控系统，可以有效监控异常工艺数据，提升异常工艺产品拦截效率。

为实现上述目的，本发明提供了一种工艺数据监控方法，包括如下步骤：

步骤S1、获取生产设备用于分别对应生产多个显示面板的多个工艺数据，将多个工艺数据划分为满足正态分布的多个第一工艺数据以及不满足正态分布的多个第二工艺数据；

步骤S2、获取多个第一工艺数据与多个第二工艺数据中具有差异的多个关键因子；

步骤S3、将对应产生关键因子的多个第一工艺数据进行数据拟合，得到拟合曲线；

步骤S4、获取所有工艺数据与拟合曲线的残差，通过每一工艺数据对应的残差判断每一工艺数据为正常工艺数据或异常工艺数据，从而判断与每一工艺数据对应的显示面板为正常显示面板或异常显示面板。

所述步骤S1中，所述多个第一工艺数据满足3sigma规则的正态分布。