[发明专利]一种匹配晶体负载电容的测试电路及测试方法在审
| 申请号： | 201910326171.6 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN109975617A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 黄德华;张坤;冯杰 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R27/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试电路技术领域，尤其涉及一种匹配晶体负载电容的测试电路及测试方法，一处理单元，处理单元用于根据一时钟信号，以时钟信号为基本频率工作并产生一测试信号；时钟信号由一时钟单元和一分频单元产生，分频单元的输入端连接时钟单元的输出端，时钟单元用于产生一时钟源信号，分频单元将时钟源信号分频处理以得到时钟信号；通过检测测试信号的输出频率，以调试时钟单元的匹配容值。有益效果在于：通过检测测试信号的输出频率，调整时钟单元的匹配容值，进而使得测试电路完全匹配，采用这种方式匹配出来的负载电容，能和晶体完全匹配，并达到很高的精度，满足产品的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 匹配 测试电路 测试信号 时钟单元 时钟信号 晶体负载电容 处理单元 分频单元 输出频率 时钟源信号 输入端连接 测试 单元产生 调整时钟 分频处理 负载电容 基本频率 输出端 检测 钟源 调试 | ||
【主权项】：
1.一种匹配晶体负载电容的测试电路，其特征在于，包括：一处理单元，所述处理单元用于根据一时钟信号，以所述时钟信号为基本频率工作并产生一测试信号；所述时钟信号由一时钟单元和一分频单元产生，所述分频单元的输入端连接所述时钟单元的输出端，所述时钟单元用于产生一时钟源信号，所述分频单元将所述时钟源信号分频处理以得到所述时钟信号；通过检测所述测试信号的输出频率，以调试所述时钟单元的匹配容值。
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