[发明专利]一种匹配晶体负载电容的测试电路及测试方法

说明书

本发明涉及测试电路技术领域，尤其涉及一种匹配晶体负载电容的测试电路及测试方法，一处理单元，处理单元用于根据一时钟信号，以时钟信号为基本频率工作并产生一测试信号；时钟信号由一时钟单元和一分频单元产生，分频单元的输入端连接时钟单元的输出端，时钟单元用于产生一时钟源信号，分频单元将时钟源信号分频处理以得到时钟信号；通过检测测试信号的输出频率，以调试时钟单元的匹配容值。有益效果在于：通过检测测试信号的输出频率，调整时钟单元的匹配容值，进而使得测试电路完全匹配，采用这种方式匹配出来的负载电容，能和晶体完全匹配，并达到很高的精度，满足产品的稳定性。

技术领域

本发明涉及测试电路技术领域，尤其涉及一种匹配晶体负载电容的测试电路及测试方法。

背景技术

石英晶体振荡器(晶体)是高精度和高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中，以及通信系统中用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。

匹配电容是指晶振要正常震荡所需要的电容。而负载电容是指在电路中跨接晶体两端的总的外界有效电容。一般外接电容，是为了使晶振两端的等效电容等于或接近负载电容。在应用时一般在给出负载电容值附近调整可以得到精确频率。此电容的大小主要影响负载谐振频率和等效负载谐振电阻。

在现有应用中，通常找晶体厂家测试，只能单独测试，这样没有在实际应用环境，寄生电容，振荡电路也不一样，测试所得参数放到具体线路上会有一定偏差。因而造成晶体的精度不够，产品的稳定性不好。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种匹配晶体负载电容的测试电路。

具体技术方案如下：

一种匹配晶体负载电容的测试电路，其中包括：

一处理单元，所述处理单元用于根据一时钟信号，以所述时钟信号为基本频率工作并产生一测试信号；

所述时钟信号由一时钟单元和一分频单元产生，所述分频单元的输入端连接所述时钟单元的输出端，所述时钟单元用于产生一时钟源信号，所述分频单元将所述时钟源信号分频处理以得到所述时钟信号；

通过检测所述测试信号的输出频率，以调试所述时钟单元的匹配容值。

优选的，所述时钟单元包括：

一晶体，所述晶体的第一引脚与第二引脚分别连接接地端，所述晶体的第四引脚连接于所述分频单元的输入端；

一第一电容，连接于所述晶体的第三引脚与接地端之间；

一第二电容，连接于所述晶体的第四引脚与接地端之间；

一第一电阻，连接于所述晶体的第三引脚与第四引脚之间；

一第二电阻，连接于所述分频单元的输出端与所述晶体的第三引脚之间。

优选的，所述匹配容值通过以下公式得到：

C_L＝C_L1*C_L2/(C_L1+C_L2)+C_stay；

其中，

C_L用于表示所述时钟单元的匹配容值；

C_L1用于表示所述第一电容的容值；

C_L2用于表示所述第二电容的容值；

C_stay用于表示所述所述晶体的布线容值。

优选的，所述测试信号通过一脉宽调制接口进行测试。