[发明专利]一种基于SRAM的中子能谱探测器及测量中子能谱的反演算法有效
| 申请号： | 201910303766.X | 申请日： | 2019-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN110018514B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 樊瑞睿;蒋伟;易晗 | 申请（专利权）人： | 东莞中子科学中心;中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T3/08 | 分类号： | G01T3/08 |
| 代理公司： | 广东腾锐律师事务所 44473 | 代理人： | 张雪华 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及辐射探测技术领域，尤指一种基于静态随机存取存储器芯片（以下称为SRAM）的中子能谱探测器及测量中子能谱的反演算法；包括硬件设备和反演算法两部分，其中硬件设备是一套基于SRAM的中子能谱探测器；反演算法是通过统计若干不同种类且SEU截面函数已知的SRAM翻转次数，反推出未知中子能谱；采用贝叶斯方法进行中子能谱的反演,易于通过程序实现，实验测量中子能谱时，通过积累一定数量的统计，得到一组芯片随中子能量变化的翻转概率曲线，每块芯片的翻转概率分布代入能谱反演程序，得到中子能谱，能谱反演程序基于C++语言和开源代码库ROOT数据分析程序包进行开发。通过测试验证，本发明的测试方法可以确保结果的准确性和有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 sram 中子 探测器 测量 反演 算法 | ||
【主权项】：
1.一种基于SRAM的中子能谱探测器及测量中子能谱的反演算法，其特征在于：包括硬件设备和反演算法两部分，其中硬件设备是一套基于SRAM的中子能谱探测器；反演算法是通过统计若干不同种类且SEU截面函数已知的SRAM翻转次数，反推出未知中子能谱。
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