[发明专利]显示面板测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 201910257297.2 申请日: 2019-04-01
公开(公告)号: CN110045524A 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 刘梦阳 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种显示面板测量装置及测量方法,其测量装置包括处理构件和测试构件,其中处理构件包括裂片部件和封合部件,裂片部件用于对显示面板进行裂片处理,封合部件用于对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理,测试构件用于测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。通过增设处理构件,将大尺寸的显示面板进行预切割处理,使其满足测试构件的测量参数要求,从而达到准确测量显示面板盒厚和预倾角的效果,解决了现有大尺寸显示面板的盒厚测量装置和测量方法存在缺陷的问题。
搜索关键词: 显示面板 裂片 测量装置 封合 测试构件 处理构件 测量 盒厚 预倾角 大尺寸显示面板 测量参数 准确测量 预切割 增设
【主权项】:
1.一种显示面板测量装置,其特征在于,包括处理构件和测试构件,其中,所述处理构件包括裂片部件和封合部件,所述裂片部件用于对所述显示面板进行裂片处理,所述封合部件用于对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理;所述测试构件用于测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。
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