[发明专利]显示面板测量装置及测量方法在审
| 申请号: | 201910257297.2 | 申请日: | 2019-04-01 |
| 公开(公告)号: | CN110045524A | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
| 发明(设计)人: | 刘梦阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
| 地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示面板 裂片 测量装置 封合 测试构件 处理构件 测量 盒厚 预倾角 大尺寸显示面板 测量参数 准确测量 预切割 增设 | ||
1.一种显示面板测量装置,其特征在于,包括处理构件和测试构件,其中,
所述处理构件包括裂片部件和封合部件,所述裂片部件用于对所述显示面板进行裂片处理,所述封合部件用于对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理;
所述测试构件用于测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。
2.如权利要求1所述的显示面板测量装置,其特征在于,所述裂片部件包括:
裂片机台,用于承载所述显示面板;
定位单元,用于根据所述测试构件的测量参数,确定裂片线位置;
裂片刀,用于在所述裂片线位置对所述显示面板进行裂片。
3.如权利要求2所述的显示面板测量装置,其特征在于,所述定位单元包括:
尺寸感应系统,用于感应固定于所述裂片机台上的显示面板的尺寸;
数据处理系统,用于将所述显示面板的尺寸与所述测试构件的尺寸进行处理,从而设定裂片参数。
4.如权利要求2所述的显示面板测量装置,其特征在于,所述裂片刀还包括驱动系统,所述驱动系统用于驱动所述裂片刀对所述显示面板进行裂片。
5.一种显示面板测量方法,其特征在于,包括:
通过显示面板测量装置的裂片部件,在预设位置对所述显示面板进行裂片处理;
通过显示面板测量装置的封合部件,对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理;
通过显示面板测量装置的测试构件,测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。
6.如权利要求5所述的显示面板测量方法,其特征在于,所述在预设位置对所述显示面板进行裂片处理的步骤包括:
通过所述裂片部件的裂片机台,承载显示面板;
通过所述裂片部件的定位单元,根据所述测试构件的测量参数,确定所述显示面板的裂片线位置;
通过所述裂片部件的裂片刀,在所述裂片线位置对所述显示面板进行裂片。
7.如权利要求6所述的显示面板测量方法,其特征在于,所述确定所述显示面板的裂片线位置的步骤包括:
根据所述显示面板的尺寸、以及所述测试构件的尺寸,确定所述显示面板的测量范围;
将所述测量范围的中心设定为测量中心,将所述测量范围的边界设定为所述裂片线位置。
8.如权利要求6所述的显示面板测量方法,其特征在于,所述测量中心到所述裂片线的距离为300至600毫米。
9.如权利要求6所述的显示面板测量方法,其特征在于,所述在所述裂片线位置对所述显示面板进行裂片的步骤包括:
将所述显示面板固定于所述裂片机台上;
设定裂片参数,定位所述裂片线位置;
驱动所述裂片刀在所述裂片线位置划裂片线;
驱动所述裂片刀沿所述切割线对所述显示面板进行裂片。
10.如权利要求5所述的显示面板测量方法,其特征在于,所述对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理的步骤包括:
驱动封合构件,将所述封合构件内的封合物质涂覆于所述显示面板的裂片部位;
将所述封合后的显示面板静置1小时。
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