[发明专利]显示面板测量装置及测量方法

说明书

本发明提供一种显示面板测量装置及测量方法，其测量装置包括处理构件和测试构件，其中处理构件包括裂片部件和封合部件，裂片部件用于对显示面板进行裂片处理，封合部件用于对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理，测试构件用于测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。通过增设处理构件，将大尺寸的显示面板进行预切割处理，使其满足测试构件的测量参数要求，从而达到准确测量显示面板盒厚和预倾角的效果，解决了现有大尺寸显示面板的盒厚测量装置和测量方法存在缺陷的问题。

技术领域

本发明涉及显示器制程领域，尤其涉及一种显示面板测量装置及测量方法。

背景技术

液晶显示装置(LCD，Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。

盒厚(Cell gap)与预倾角(Pre angle)作为影响显示面板性能的两个重要参数，在制造的过程中需要测量。然而随着显示面板往越来越大的尺寸发展，现有盒厚测量机台无法满足大尺寸显示面板的测量需求。

因此，现有大尺寸显示面板测量装置和测量方法存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明提供一种显示面板测量装置及测量方法，以解决现有大尺寸显示面板测量装置和测量方法存在缺陷的问题。

为解决以上问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种显示面板测量装置，包括处理构件和测试构件，其中，

所述处理构件包括裂片部件和封合部件，所述裂片部件用于对所述显示面板进行裂片处理，所述封合部件用于对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理；

所述测试构件用于测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。

在本发明提供的显示面板测量装置中，所述裂片部件包括：

裂片机台，用于承载所述显示面板；

定位单元，用于根据所述测试构件的测量参数，确定裂片线位置；

裂片刀，用于在所述裂片线位置对所述显示面板进行裂片。

在本发明提供的显示面板测量装置中，所述定位单元包括：

尺寸感应系统，用于感应固定于所述裂片机台上的显示面板的尺寸；

数据处理系统，用于将所述显示面板的尺寸与所述测试构件的尺寸进行处理，从而设定裂片参数。

在本发明提供的显示面板测量装置中，所述裂片刀还包括驱动系统，所述驱动系统用于驱动所述裂片刀对所述显示面板进行裂片。

本发明提供一种显示面板测量方法，包括：

通过显示面板测量装置的裂片部件，在预设位置对所述显示面板进行裂片处理；

通过显示面板测量装置的封合部件，对裂片后显示面板的裂片部位进行封合处理；

通过显示面板测量装置的测试构件，测量封合后的显示面板的盒厚和预倾角。

在本发明提供的显示面板测量方法中，所述在预设位置对所述显示面板进行裂片处理的步骤包括：

通过所述裂片部件的裂片机台，承载显示面板；

通过所述裂片部件的定位单元，根据所述测试构件的测量参数，确定所述显示面板的裂片线位置；

通过所述裂片部件的裂片刀，在所述裂片线位置对所述显示面板进行裂片。

在本发明提供的显示面板测量方法中，所述确定所述显示面板的裂片线位置的步骤包括：