[发明专利]集成电路光学芯片光圈测试方法

摘要

本发明公开了一种集成电路光学芯片光圈测试方法，对抓取到的图像阵列按照圆的概念进行处理，处理的方法即是通过半径来划分，得到一个一个的圆形图案，按照坐标进行重构为另外的一个二维数组，然后对得到的数组进行相应的运算，最终得到需要的值；本发明提供的集成电路光学芯片光圈测试方法，在不增加任何的额外硬件成本，使用原有的测试条件下，本发明解决目前行业内无成熟覆盖屏幕指纹芯片光圈故障的测试方法和算法的技术问题。

主权项

1.一种集成电路光学芯片光圈测试方法，其特征在于：对抓取到的图像阵列按照圆的概念进行处理，处理的方法即是通过半径来划分，得到一个一个的圆形图案，按照坐标进行重构为另外的一个二维数组，然后对得到的数组进行相应的运算，最终得到需要的值；具体如下步骤进行：1)抓取到图像，将图像按照X、Y坐标排列成二维阵列；2)根据待测阵列的尺寸，以阵列的行Y、列X值小的一半为光圈的最大半径R；3)以原图像中心坐标为圆心，坐标0 0，将原图像进行转换；4)从圆心为坐标中心，半径为1开始，查找在圆半径上的坐标；5)根据选取的坐标以R为半径重新构成一个二维数组；6)按照行数组求取每个数组中所有坐标对应像素的均值；7)将得到的均值转换为一维数组，M[]＝[M1,M2,M3……MN]；8)将一维数组M中元素按照相邻相减的原则进行运算；X1＝M2‑M1；X2＝M3‑M2；XN‑1＝MN‑MN‑1通过运算后得到一维数组X[]＝[X1,X2……XN‑1]；9)求取数组X绝对值最大值；将绝对值最大值与需要进行光圈判断的标准进行比较，超过标准值即判断为光圈测试失效，否则即为合格。