[发明专利]集成电路光学芯片光圈测试方法

说明书

本发明公开了一种集成电路光学芯片光圈测试方法，对抓取到的图像阵列按照圆的概念进行处理，处理的方法即是通过半径来划分，得到一个一个的圆形图案，按照坐标进行重构为另外的一个二维数组，然后对得到的数组进行相应的运算，最终得到需要的值；本发明提供的集成电路光学芯片光圈测试方法，在不增加任何的额外硬件成本，使用原有的测试条件下，本发明解决目前行业内无成熟覆盖屏幕指纹芯片光圈故障的测试方法和算法的技术问题。

技术领域

本技术方案应用于屏下指纹芯片测试，具体是一种集成电路光学芯片光圈测试方法。

背景技术

现有技术中，对于集成电路光学芯片光圈测试，通常情况下采用垂直的均匀光照射芯片感光阵列，每个像素输出是均匀分布，因为芯片本身特性，中间像素感光照度较高，边缘较低，图1为一款208*160阵列屏下指纹识别芯片通过抓取到的数据还原的图像。常规的测试算法是将阵列的数据抓取到以后，通过目前成熟的算法计算图像均值、行/列均值找出坏行坏列、图像中坏点、Shading(亮度差异较大的部分)等参数，这些检测方法或者说算法都是基于阵列的行、列、点、块进行测试。屏下指纹芯片在某些特定故障或者条件下会出现光圈的现象，出现光圈的像素单元本身在行、列、或者固定区域内都不是最大或者最小值，从而通过以上的算法无法检测出光圈的失效，本申请方案提供的集成电路光学芯片光圈测试方法，即是解决光圈测试中的上述问题。

发明内容

本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种集成电路光学芯片光圈测试方法，屏下指纹芯片测试中通过使用光源照射待测芯片感光阵列(比如208*160，共计33280个像素)，感光阵列每个像素根据不同的光照度产生微弱电流，电流经过内部AD转换器输出，测试通过ATE设备抓取AD转换器输出的数据，通过对所有像素数据进行运算，从而得到相应的芯片技术参数其中。

为实现上述技术效果，本发明采用的具体技术方案为：

对抓取到的图像阵列按照圆的概念进行处理，处理的方法即是通过半径来划分，得到一个一个的圆形图案，按照坐标进行重构为另外的一个二维数组，然后对得到的数组进行相应的运算，最终得到需要的值；

具体如下步骤进行：

1)抓取到图像，将图像按照X、Y坐标排列成二维阵列；

2)根据待测阵列的尺寸，以阵列的行Y、列X值小的一半为光圈的最大半径R；

3)以原图像中心坐标为圆心，坐标0 0，将原图像进行转换；

4)从圆心为坐标中心，半径为1开始，查找在圆半径上的坐标；

5)根据选取的坐标以R为半径重新构成一个二维数组；

6)按照行数组求取每个数组中所有坐标对应像素的均值；

7)将得到的均值转换为一维数组，M[]＝[M1,M2,M3……MN]；

8)将一维数组M中元素按照相邻相减的原则进行运算；

X1＝M2-M1；

X2＝M3-M2；

XN-1＝MN-MN-1

通过运算后得到一维数组X[]＝[X1,X2……XN-1]；

9)求取数组X绝对值最大值；

将绝对值最大值与需要进行光圈判断的标准进行比较，超过标准值即判断为光圈测试失效，否则即为合格。

上述的集成电路光学芯片光圈测试方法，其中：1)步骤，通常情况下阵列中每个坐标可以表示为X、Y，该坐标对应的值即为该点的像素值。