[发明专利]集成电路光学芯片光圈测试方法

权利要求书

1.一种集成电路光学芯片光圈测试方法，其特征在于：

对抓取到的图像阵列按照圆的概念进行处理，处理的方法即是通过半径来划分，得到一个一个的圆形图案，按照坐标进行重构为另外的一个二维数组，然后对得到的数组进行相应的运算，最终得到需要的值；

具体如下步骤进行：

1)抓取到图像，将图像按照X、Y坐标排列成二维阵列；

2)根据待测阵列的尺寸，以阵列的行Y、列X值小的一半为光圈的最大半径R；

3)以原图像中心坐标为圆心，坐标00，将原图像进行转换；

4)从圆心为坐标中心，半径为1开始，查找在圆半径上的坐标；

5)根据选取的坐标以R为半径重新构成一个二维数组；

6)按照行数组求取每个数组中所有坐标对应像素的均值；

7)将得到的均值转换为一维数组，M[]＝[M1,M2,M3……MN]；

8)将一维数组M中元素按照相邻相减的原则进行运算；

X1＝M2-M1；

X2＝M3-M2；

XN-1＝MN-MN-1

通过运算后得到一维数组X[]＝[X1,X2……XN-1]；

9)求取数组X绝对值最大值；

将绝对值最大值与需要进行光圈判断的标准进行比较，超过标准值即判断为光圈测试失效，否则即为合格。

2.如权利要求1所述的集成电路光学芯片光圈测试方法，其特征在于：3)步骤，构成左-80、0，中心0、0，右80、0，上0、80，下0、-80的一个圆。

3.如权利要求2所述的集成电路光学芯片光圈测试方法，其特征在于：4)步骤，查找方式如下：

R＝1,2,3,4……N；

R＝1时，以R为半径，X,Y坐标取最接近半径R的坐标。

4.如权利要求1-3中任一项所述的集成电路光学芯片光圈测试方法，其特征在于，5)步骤构成一个二维数组，方式如下：

Array[R＝1]＝[(1,0)，(0,1)，(-1，0)，(0，-1)]

Array[R＝2]＝[(2,0)，(2,1)，(1,2)，(0,2),(-1,2)，(-2,1)，(-2,0)，(-2，-1)，(-1，-2)，(0，-2)，(1，-2)，(2，-1)]

…

Array[R＝N]＝[()，()，()…]。