[发明专利]液晶显示屏中碎亮点检测方法有效

专利信息
申请号: 201910245012.3 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN110007493B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 路建伟;姚毅 申请(专利权)人: 凌云光技术股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R31/00;G06T7/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供了液晶显示屏中碎亮点检测方法,利用灰尘画面图像中的异物点,去除黑画面图像中的灰尘对应的异物点,得到初步目标图像;利用构造的多个不同角度的结构元素,对初步目标图像进行处理,获取初步目标图像中所有异物点;从初步目标图像中所有异物点中,选取异物点排布方向与结构元素的角度方向相同的异物点的集合,作为初始目标异物;采用Blob分析法去除初始目标异物中不符合预设面积和长度标准的异物点的集合,得到目标异物;判断目标异物中异物点的密度是否符合预设密度标准;如果符合,则目标异物中的异物点判定为碎亮点。本申请中,利用多个预设标准去除不符合预设标准的异物点集合,去除图像中干扰点,提高检测的准确性。
搜索关键词: 液晶显示屏 亮点 检测 方法
【主权项】:
1.液晶显示屏中碎亮点检测方法,其特征在于,所述方法包括:利用待测液晶显示屏的灰尘画面图像中的异物点,去除所述待测液晶显示屏的黑画面图像中的灰尘对应的异物点,得到所述待测液晶显示屏的初步目标图像;利用构造的多个不同角度的结构元素,对所述初步目标图像进行处理,获取所述初步目标图像中所有异物点;从所述初步目标图像中所有异物点中,选取异物点排布方向与所述结构元素的角度方向相同的异物点的集合,作为初始目标异物;采用Blob分析法去除所述初始目标异物中不符合预设面积和长度标准的异物点的集合,得到目标异物;判断所述目标异物中异物点的密度是否符合预设密度标准;如果符合,则将所述目标异物中的异物点判定为碎亮点。
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