[发明专利]液晶显示屏中碎亮点检测方法

说明书

本申请提供了液晶显示屏中碎亮点检测方法，利用灰尘画面图像中的异物点，去除黑画面图像中的灰尘对应的异物点，得到初步目标图像；利用构造的多个不同角度的结构元素，对初步目标图像进行处理，获取初步目标图像中所有异物点；从初步目标图像中所有异物点中，选取异物点排布方向与结构元素的角度方向相同的异物点的集合，作为初始目标异物；采用Blob分析法去除初始目标异物中不符合预设面积和长度标准的异物点的集合，得到目标异物；判断目标异物中异物点的密度是否符合预设密度标准；如果符合，则目标异物中的异物点判定为碎亮点。本申请中，利用多个预设标准去除不符合预设标准的异物点集合，去除图像中干扰点，提高检测的准确性。

技术领域

本申请涉及缺陷检测领域，尤其涉及液晶显示屏中碎亮点检测方法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示屏)目前已广泛应用于手机、平板电脑、车载显示等诸多领域。随着市场需求加大，竞争加剧，客户对LCD的质量要求不断提高，促使LCD生产厂家对LCD的质量检测更加重视。其中，异物检测是LCD的重点质量检测项目。

其中，异物检测的难点在于异物与背景的对比度低，且异物的形态不统一，不容易被发现，特别是Cell段内的异物。但是，手机显示屏的组装过程是从Cell段到模组阶段将一层一层的屏相贴合的过程，在Cell段不易检测出的异物，在模组段贴完上下偏光片之后就会比较容易被检测出。而对于Cell段内未被发觉而在模组段检测出异物的LCD，厂家为了保证产品出厂质量会选择将其废弃。这些被废弃的LCD会造成大量资源浪费，导致企业成本增加。因此，为了减少LCD的报废率，在Cell段内的异物检测至关重要。

具体的，Cell段内的异物在暗态画面下面板显示区域通常呈现为微小细密异物点，这些微小细密异物点又称为碎亮点。目前，对于碎亮点的检测方法通常采用Hough变换(Hough transform，霍夫变换)方法。其具体过程如下：首先，将待测图像空间中的各个目标点映射到参数空间分别获得一条直线；其次，对各个直线上的点进行投票，即累加；然后，遍历参数空间，找出局部极大值点，根据极大值点的坐标值获得待测图像中可能的直线；最后，以目标点是否在待测图像的直线上，来判断目标点是否为碎亮点。

由于碎亮点一般呈密集分布，相邻两个异物点之间的距离差很小。但Hough变换法检测碎亮点，只是单纯的检测异物点是否处于同一直线上，没有考虑点与点之间的距离关系，但是实际中有些碎亮点的排布除了共线的特点外，还有距离相对比较近、固定长度范围内点数比较多的特点。所以，该检测方式的准确性低。

发明内容

本申请提供了液晶显示屏中碎亮点检测方法，以解决现有检测方法的准确性低的技术问题。

为了解决上述问题，本申请提供以下的技术方案:

液晶显示屏中碎亮点检测方法，方法包括：利用待测液晶显示屏的灰尘画面图像中的异物点，去除待测液晶显示屏的黑画面图像中的灰尘对应的异物点，得到待测液晶显示屏的初步目标图像；利用构造的多个不同角度的结构元素，对初步目标图像进行处理，获取初步目标图像中所有异物点；从初步目标图像中所有异物点中，选取异物点排布方向与结构元素的角度方向相同的异物点的集合，作为初始目标异物；采用Blob分析法去除初始目标异物中不符合预设面积和长度标准的异物点的集合，得到目标异物；判断目标异物中异物点的密度是否符合预设密度标准；如果符合，则将所述目标异物中的异物点判定为碎亮点。

可选地，利用待测液晶显示屏的灰尘画面图像中的异物点，去除液待测液晶显示屏的黑画面图像中的灰尘对应的异物点，得到待测液晶显示屏的初步目标图像之前，还包括：高亮光源从背面照射待测液晶显示屏获得黑画面图像，其中，高亮光源的光强度/普通光源的光强度≥3，普通光源从侧面照射待测液晶显示屏获得灰尘画面图像；对黑画面图像和灰尘画面图像分别进行图像增强处理，并提取黑画面图像中的异物点和灰尘画面图像中的异物点。