[发明专利]液晶显示屏中碎亮点检测方法

权利要求书

1.液晶显示屏中碎亮点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

利用待测液晶显示屏的灰尘画面图像中的异物点，去除所述待测液晶显示屏的黑画面图像中的灰尘对应的异物点，得到所述待测液晶显示屏的初步目标图像；

利用构造的多个不同角度的结构元素，对所述初步目标图像进行处理，获取所述初步目标图像中所有异物点；

从所述初步目标图像中所有异物点中，选取异物点排布方向与所述结构元素的角度方向相同的异物点的集合，作为初始目标异物；

采用Blob分析法去除所述初始目标异物中不符合预设面积和长度标准的异物点的集合，得到目标异物；

判断所述目标异物中异物点的密度是否符合预设密度标准；

如果符合，则将所述目标异物中的异物点判定为碎亮点。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述利用待测液晶显示屏的灰尘画面图像中的异物点，去除所述待测液晶显示屏的黑画面图像中的灰尘对应的异物点，得到所述待测液晶显示屏的初步目标图像之前，还包括：

高亮光源从背面照射待测液晶显示屏获得黑画面图像，其中，高亮光源的光强度/普通光源的光强度≥3，普通光源从侧面照射待测液晶显示屏获得灰尘画面图像；

对所述黑画面图像和所述灰尘画面图像分别进行图像增强处理，并提取所述黑画面图像中的异物点和所述灰尘画面图像中的异物点。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述采用Blob分析法去除所述初始目标异物中不符合预设面积和长度标准的异物点的集合，得到目标异物，包括：

利用Blob分析法去除所述初始目标异物中不符合预设面积标准的异物点的集合，得到第一目标图像；

利用构造的第一长度的结构元素，对所述第一目标图像进行处理，获取所述第一目标图像中所有异物点；

从所述第一目标图像中所有异物点中，选取异物点排布方向与所述结构元素的角度方向相同的异物点的集合，作为第一目标异物；

利用Blob分析法去除所述第一目标异物中不符合预设长度标准的异物点的集合，得到目标异物。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述利用Blob分析法去除所述第一目标异物中不符合预设长度标准的异物点的集合，得到目标异物，包括：

利用Blob分析法去除所述第一目标异物中不符合预设长度标准的异物点的集合，获得第二目标图像；

利用构造的第二长度的结构元素，对所述第二目标图像进行处理，获取所述第二目标图像中所有异物点；

从所述第二目标图像中所有异物点中，选取异物点排布方向与所述结构元素的角度方向相同的异物点的集合，作为第二目标异物；

利用Blob分析法去除所述第二目标异物中不符合预设长度标准的异物点的集合，得到目标异物。

5.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，对所述黑画面图像和所述灰尘画面图像分别进行图像增强处理，并提取所述黑画面图像的异物点和所述灰尘画面图像的异物点，包括：

对所述黑画面图像和所述灰尘画面图像分别进行CSF滤波处理；

对所述黑画面图像和所述灰尘画面图像分别进行均值滤波处理；

所述黑画面图像和所述灰尘画面图像的各个异物点分别设置各自阈值进行分割运算，提取各自的异物点。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，对所述黑画面图像和所述灰尘画面图像分别进行CSF滤波处理，包括：

采用傅里叶变换将所述黑画面图像和所述灰尘画面图像分别转换到第一频域和第二频域；

构造第一高斯滤波核和第二高斯滤波核，并将所述第一高斯滤波核和所述第二高斯滤波核做差获得带通滤波器，其中，所述第一高斯滤波核大于所述第二高斯滤波核；

利用所述带通滤波器分别对第一频域和第二频域滤波，并将滤波后的第一频域和第二频域经傅里叶反变换到第一空域和第二空域。