[发明专利]芯片测试方法及装置、系统、控制设备及存储介质在审
| 申请号： | 201910169534.X | 申请日： | 2019-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN109884502A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;曾巍;黄雪青;金海林;罗聪;陈沛丞 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 高洁;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片测试方法及装置、系统、控制设备及存储介质，该方法包括：确定与芯片对应的电路板；其中，所述电路板上设置有键合焊盘；所述芯片为未进行封装的裸片；将芯片上的测试点连接在对应的所述键合焊盘上；通过测试设备对所述键合焊盘上的信号进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 键合焊盘 电路板 存储介质 控制设备 芯片测试 芯片 测试设备 测试点 裸片 封装 测试 申请 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：确定与待测试的芯片对应的电路板；其中，所述电路板上设置有键合焊盘；所述芯片为未进行封装的裸片；将芯片上的测试点连接在对应的所述键合焊盘上；通过测试设备对所述键合焊盘上的信号进行测试。
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