[发明专利]芯片验证方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 201910117821.6 | 申请日： | 2019-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN111579959A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 周子超 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 518045 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片验证方法、装置及存储介质。上位机根据测量配置请求下发对待检测芯片的测试指令，待检测芯片根据测试指令对多个测试模块进行测试，并将多个测试模块对应的输出信号发送至通用验证平台，通用验证平台对多个输出信号进行信号分析得到待检测芯片的多个验证分析结果，上位机根据多个验证分析结果自动生成待检测芯片的测试报告，最终将测试报告发送至网络侧。上述方法实现对待检测芯片测试结果的自动化统计以及网络共享，同时，提高了芯片的验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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