[发明专利]芯片验证方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

接收通用验证平台发送的待检测芯片的多个验证分析结果；

判断所述待检测芯片的测试用例是否执行完毕，若执行完毕，则根据所述多个验证分析结果生成所述待检测芯片的测试报告；

将所述测试报告发送至网络侧。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收通用验证平台发送的待检测芯片的多个验证分析结果之前，所述方法还包括：

获取所述待检测芯片的测试配置请求，所述测试配置请求包括所述待检测芯片的型号、测试模块以及测试用例序列号；

根据所述测试配置请求向所述待检测芯片发送多个测试指令。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述待检测芯片的测试配置请求之后，所述方法还包括：

根据测量配置请求向所述通用验证平台发送所述待检测芯片对应的验证分析指令。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试模块包括内部模块和/或外设模块；所述测试指令用于指示对所述内部模块和/或所述外设模块进行测试。

5.根据权利要求2至4任一项所述的方法，其特征在于，若所述待检测芯片的数量为多个，所述测试配置请求还包括多个待检测芯片的测试的执行顺序。

6.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

接收待检测芯片发送的多个输出信号；所述多个输出信号通过多线程通道并行输出；

根据所述多个输出信号生成所述待检测芯片的多个验证分析结果，将多个所述验证分析结果发送至上位机。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述接收待检测芯片发送的多个输出信号之前，所述方法还包括：

获取所述上位机发送的所述待检测芯片对应的验证分析指令；

所述根据所述多个输出信号生成所述待检测芯片的多个验证分析结果，将所述多个验证分析结果发送至上位机，包括：

根据所述多个输出信号和所述验证分析指令生成所述待检测芯片的多个验证分析结果，将所述多个验证分析结果发送至所述上位机。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待检测芯片的测试模块包括内部模块和/或外设模块；若对所述待检测芯片的测试包括对所述外设模块的测试，所述方法还包括；

向所述待检测芯片的所述外设模块发送激励信号。

9.一种上位机，其特征在于，包括：

接收模块，用于接收通用验证平台发送的待检测芯片的多个验证分析结果；

判断模块，用于判断所述待检测芯片的测试用例是否执行完毕，若执行完毕，则生成模块，用于根据所述多个验证分析结果生成所述待检测芯片的测试报告；

发送模块，用于将所述测试报告发送至网络侧。

10.一种通用验证平台，其特征在于，包括：

接收模块，用于接收待检测芯片发送的多个输出信号；所述多个输出信号通过多线程通道并行输出；

生成模块，用于根据所述多个输出信号生成所述待检测芯片的多个验证分析结果，发送模块，用于将所述多个验证分析结果发送至上位机。