[发明专利]电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置有效
| 申请号： | 201910086552.1 | 申请日： | 2019-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN110162208B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 李尚礼 | 申请（专利权）人： | 李尚礼 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人： | 魏彦;洪玉姬 |
| 地址： | 中国台湾基*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置，以同一电极上的所有感测点的各种信号的多种统计值设定电容式感测装置进行触控检测时所使用的量测阈值，以此避免量测时间差造成信号传感器的各感测点的信号强度不均匀、强度不足等问题发生。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 式感测 装置 阈值 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，包括：扫描一信号传感器，以得到该信号传感器的多个感测点的基础信号，其中该信号传感器包括多条第一电极线与多条第二电极线，并且该多条第一电极线与该多条第二电极线交错设置以界定该多个感测点；由一信号仿真单元仿真一正常触控事件以产生一第一触碰仿真信号；根据该第一触碰仿真信号与各该感测点的该基础信号生成各该感测点的一第一触碰信号；计算每一该第一电极线界定的该多个感测点的该多个基础信号的多个第一统计量，其中该多个第一统计量包括该多个基础信号的平均值、该多个基础信号的标准偏差、该多个基础信号的最大值及该多个基础信号的最小值；计算每一该第一电极线界定的该多个感测点的该多个第一触碰信号的多个第二统计量，其中该多个第二统计量包括该多个第一触碰信号的平均值、该第一触碰信号的标准偏差、该多个第一触碰信号的最大值及该多个第一触碰信号的最小值；以及根据该多个第一统计量与该多个第二统计量设定多个量测阈值，其中该多个量测阈值包括未发生任何触控事件的感测信号的一第一容许范围、发生该正常触控事件的感测信号的一第二容许范围以及量测基准点。
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