[发明专利]电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置

权利要求书

1.一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，包括：

扫描一信号传感器，以得到该信号传感器的多个感测点的基础信号，其中该信号传感器包括多条第一电极线与多条第二电极线，并且该多条第一电极线与该多条第二电极线交错设置以界定该多个感测点；

由一信号仿真单元仿真一正常触控事件以产生一第一触碰仿真信号；

将该第一触碰仿真信号与各该感测点的该基础信号合成以生成各该感测点的一第一触碰信号；

计算每一该第一电极线界定的该多个感测点的该多个基础信号的多个第一统计量，其中该多个第一统计量包括该多个基础信号的平均值、该多个基础信号的标准偏差、该多个基础信号的最大值及该多个基础信号的最小值；

计算每一该第一电极线界定的该多个感测点的该多个第一触碰信号的多个第二统计量，其中该多个第二统计量包括该多个第一触碰信号的平均值、该第一触碰信号的标准偏差、该多个第一触碰信号的最大值及该多个第一触碰信号的最小值；以及

根据该多个第一统计量与该多个第二统计量设定多个量测阈值，其中该多个量测阈值包括未发生任何触控事件的感测信号的一第一容许范围、发生该正常触控事件的感测信号的一第二容许范围以及量测基准点；

其中，该第一触碰仿真信号是仿真一手指信号的信号强度，且该信号仿真单元内建于该电容式感测装置的芯片内。

2.如权利要求1所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，还包括：

由该信号仿真单元仿真一异物触控事件以产生一第二触碰仿真信号；

根据该第二触碰仿真信号与各该感测点的该基础信号生成各该感测点的一特殊触碰信号；以及

计算该每一该第一电极线界定的该多个感测点的该多个特殊触碰信号的多个第三统计量，其中该多个第三统计量包括该多个特殊触碰信号的平均值、该特殊触碰信号的标准偏差、该多个特殊触碰信号的最大值及该多个特殊触碰信号的最小值；

其中，根据该多个第一统计量与该多个第二统计量设定该多个量测阈值的步骤包括根据该多个第一统计量、该多个第二统计量与该多个第三统计量设定该多个量测阈值。

3.如权利要求2所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，该多个量测阈值还包括发生异常触控事件的感测信号的保护范围。

4.如权利要求1所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，还包括：

驱动并量测该多个感测点中的至少一者，以得到该至少一感测点的第二基础信号；

比对各该第二基础信号与该第一容许范围以得到一第一比较结果；以及

根据该第一比较结果选择性执行该量测基准点的调整程序。

5.如权利要求4所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，还包括：

由该信号仿真单元再次仿真该正常触控事件以产生该第一触碰仿真信号；

根据各该第二基础信号与再次产生的该第一触碰仿真信号生成一第二触碰信号；以及

比对各该第二触碰信号与该第二容许范围以得到一第二比较结果；

其中，根据该第一比较结果选择性执行该量测基准点的该调整程序的步骤为根据该第一比较结果与该第二比较结果选择性执行该量测基准点的该调整程序。

6.如权利要求1所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，还包括：

计算该多条第一电极线之间各第一统计值的比值；以及

记录各该第一统计值的该比值。

7.如权利要求6所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，还包括：

利用该多条第二电极线中之一得到该多条第一电极线的量测值；

根据各该第一统计值的该比值与该多条第一电极线的该多个量测值确认一变异范围；以及

根据该变异范围调整该量测基准点。

8.如权利要求1至7中的任一项所述的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，其特征在于，该多条第一电极线为感应电极线，且该多条第二电极线为驱动电极线。