[发明专利]电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置

说明书

一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置，以同一电极上的所有感测点的各种信号的多种统计值设定电容式感测装置进行触控检测时所使用的量测阈值，以此避免量测时间差造成信号传感器的各感测点的信号强度不均匀、强度不足等问题发生。

技术领域

本发明关于一种电容式感测技术，特别关于一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置。

背景技术

为了提升使用上的便利性，越来越多电子装置使用触碰屏幕(touch screen)作为操作界面，以让用户直接在触碰屏幕上点选画面来进行操作，由此提供更为便捷且人性化的操作模式。触控屏幕主要由提供显示功能的显示器以及提供触控功能的感测装置所组成。

一般而言，感测装置利用自电容(self-capacitance)感测技术及/或互电容(mutual capacitance)感测技术来得知面板是否有被使用者触碰。在感测过程中，当感测装置检测到某个坐标位置的电容值的变化时，感测装置判断此坐标位置有被用户触碰。因此，在动作时，感测装置会对每一个坐标位置都储存有未触碰的电容值，并且在后续接收到最新的电容值时，通过比对最新的电容值与未触碰的电容值来判断此电容值所对应的位置是否有被触碰。

由于感测装置的设计、制造与材料的差异，造成感测装置上每个感测点(驱动电极线与感应电极线的交点)的寄生电容有差异，而使得感测点的信号强度有所差异。感测装置需要强度强且均匀的信号才易于进行后续信号处理(如，触控检测等)。由于不同感测点无法同时完成量测，因此存在量测时间差所造成的问题。举例来说，不同感测点的信号基础在同一个时点是稳定的，但会随着时间产生变化，由于不同感测点的量测时点不同，量测时间差所造成信号基础变化误以为是不同感测点的信号基础不稳定。

发明内容

在一实施例中，一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法，包括下列步骤。扫描一信号传感器以得到信号传感器的多个感测点的基础信号，其中信号传感器包括多条第一电极线与多条第二电极线，并且多条第一电极线与多条第二电极线交错设置以界定多个感测点。由一信号仿真单元仿真一正常触控事件以产生一第一触碰仿真信号。根据第一触碰仿真信号与各感测点的基础信号生成各感测点的一第一触碰信号。计算每一第一电极线界定的感测点的多个基础信号的多个第一统计量，其中多个第一统计量包括多个基础信号的平均值、多个基础信号的标准偏差、多个基础信号的最大值及多个基础信号的最小值。计算每一第一电极线界定的感测点的多个第一触碰信号的多个第二统计量，其中多个第二统计量包括多个第一触碰信号的平均值、第一触碰信号的标准偏差、多个第一触碰信号的最大值及多个第一触碰信号的最小值。根据多个第一统计量与多个第二统计量设定多个量测阈值，其中多个量测阈值包括未发生任何触控事件的感测信号的一第一容许范围、发生正常触控事件的感测信号的一第二容许范围以及量测基准点。

在一实施例中，一种电容式感测装置，其包括：多条第一电极线、多条第二电极线以及一信号处理电路。多条第一电极线与多条第二电极线交错，并且此些第一电极线与此些第二电极线界定以一矩阵配置的多个感测点。信号处理电路电性连接此些第一电极线与此些第二电极线。信号处理电路执行一校正程序以及基于此校正程序的结果进行各感测点的触控检测。其中，校正程序包括下列步骤。扫描多个感测点以得到多个感测点的基础信号。模拟一正常触控事件以产生一第一触碰仿真信号。根据第一触碰仿真信号与各感测点的基础信号生成各感测点的一第一触碰信号。计算每一第一电极线界定的感测点的多个基础信号的多个第一统计量，其中多个第一统计量包括多个基础信号的平均值、多个基础信号的标准偏差、多个基础信号的最大值及多个基础信号的最小值。计算每一第一电极线界定的感测点的多个第一触碰信号的多个第二统计量，其中多个第二统计量包括多个第一触碰信号的平均值、第一触碰信号的标准偏差、多个第一触碰信号的最大值及多个第一触碰信号的最小值。根据多个第一统计量与多个第二统计量设定多个量测阈值，其中多个量测阈值包括未发生任何触控事件的感测信号的一第一容许范围、发生正常触控事件的感测信号的一第二容许范围以及量测基准点。