[发明专利]一种检测方法、检测装置及终端设备有效
| 申请号： | 201910023846.X | 申请日： | 2019-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN109741324B | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 何怀亮 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 高星 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于材料制作技术领域，提供了一种检测方法、检测装置及终端设备，包括：对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷。通过上述方法，大大提高了对颗粒状缺陷检测的正确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 方法 装置 终端设备 | ||
【主权项】：
1.一种检测方法，其特征在于，包括：对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷。
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