[发明专利]一种检测方法、检测装置及终端设备

说明书

本申请适用于材料制作技术领域，提供了一种检测方法、检测装置及终端设备，包括：对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷。通过上述方法，大大提高了对颗粒状缺陷检测的正确率。

技术领域

本申请涉及材料制作技术领域，尤其涉及一种检测方法、检测装置及终端设备。

背景技术

随着科技的发展，液晶显示器(LCD，Liquid Crystal Display)逐渐代替传统的显示器，成为显示器市场的主流产品。在液晶显示器制作过程中，需要按照设计尺寸对面板进行切割，这可能会造成面板的缺陷。

所以通常情况下，需要对切割后的面板进行缺陷检测以淘汰不合格的产品。现有的缺陷检测方法对于部分圆形颗粒状缺陷检测的正确率较低，容易将面板内的水珠等不影响面板质量的颗粒误检为缺陷。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种检测方法、检测装置及终端设备，以解决现有技术中对颗粒状缺陷检测的正确率较低的问题。

本申请中一个实施例提供了一种检测方法，包括：

对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；

若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；

根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；

若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；

若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷。

本申请中另一个实施例提供了一种检测装置，包括：

扫描单元，用于对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；

获取单元，用于若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；

第一确定单元，用于根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；

标记单元，用于若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；

第二确定单元，用于若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷。

本申请中另一实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现本申请实施例第一方面提供的所述方法的步骤。