[发明专利]一种检测方法、检测装置及终端设备

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷；

若存在缺陷，获取所述缺陷对应的目标区域，所述目标区域为所述缺陷的最小外接矩形所占的区域；

根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，所述第一类缺陷为误判缺陷；

若所述缺陷为第一类缺陷，则将该缺陷标记为正常；

若所述缺陷不是第一类缺陷，则基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，所述第二类缺陷为对所述面板进行切割磨边引起的缺陷；所述对待检测的面板进行扫描，确定所述待检测的面板中是否存在缺陷，包括：

对待检测的面板进行扫描获得扫描图像；

按照预设顺序，分别计算所述扫描图像上的每个像素点的灰度值与预设灰度值的第一灰度差；

若所述第一灰度差大于第一预设阈值，则将当前的像素点标记为缺陷像素点；

根据所述缺陷像素点之间的位置关系，将相邻的缺陷像素点标记为同一缺陷；

所述基于所述缺陷在所述面板上的位置，确定所述缺陷是否为第二类缺陷，包括：

根据所述缺陷在所述扫描图像上的位置，判断所述缺陷是否处于所述面板的边缘；

若所述缺陷处于所述面板的边缘，则确定所述缺陷为第二类缺陷；

若所述缺陷未处于所述面板的边缘，则确定所述缺陷不是第二类缺陷；

在根据所述缺陷在所述扫描图像上的位置，判断所述缺陷是否处于所述面板的边缘之后，还包括：

若所述缺陷未处于所述面板的边缘，则计算所述缺陷对应的目标区域的内部灰度差，所述内部灰度差为所述目标区域内预设大小的中心区域处的平均灰度值与非中心区域处的平均灰度值的差值；

若所述内部灰度差大于第二预设阈值，则确定所述缺陷为第一异物，所述第一异物为水珠；

若所述内部灰度差小于或等于第二预设阈值，则确定所述缺陷为第二异物，所述第二异物为除水珠外的异物。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，确定所述缺陷是否为第一类缺陷，包括：

计算所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比；

若所述面积百分比小于预设百分比，则确定所述缺陷为第一类缺陷；

若所述面积百分比大于或等于预设百分比，则确定所述缺陷不是第一类缺陷。

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述计算所述缺陷与所述缺陷对应的目标区域的面积百分比，包括：

计算所述缺陷包含的缺陷像素点的个数，得到第一面积；

计算所述缺陷对应的目标区域包含的像素点的个数，得到第二面积；

计算所述第一面积与所述第二面积的面积百分比。