[发明专利]测距校正装置、测距校正系统、测距校正方法和测距校正程序在审
| 申请号： | 201880099451.1 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN113167895A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 三木洋平 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01S17/58 | 分类号： | G01S17/58;G01S17/89;G01S17/93;G01S17/931 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 马建军;邓毅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 测距校正装置(10)校正传感器(1)与物体之间的测距信息(31)。移动计算部(202)根据由传感器(1)本次测定出的测距信息(31)与由传感器(1)上次测定出的测距信息的差分，计算在多个方向的各方向上物体相对于传感器(1)的移动距离作为移动信息(32)。校正方向提取部(203)使用多个方向的各方向上的移动信息(32)计算物体的移动速度作为物体移动速度，根据物体移动速度，从多个方向提取校正测距信息(31)的方向作为校正方向(33)。测距信息校正部(301)计算在校正方向(33)上传感器(1)上次测定的时刻与传感器本次测位的时刻之间的校正时刻的从传感器(1)到物体的距离，作为校正后的测距信息(34)。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 校正 装置 系统 方法 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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