[发明专利]测距校正装置、测距校正系统、测距校正方法和测距校正程序

说明书

测距校正装置(10)校正传感器(1)与物体之间的测距信息(31)。移动计算部(202)根据由传感器(1)本次测定出的测距信息(31)与由传感器(1)上次测定出的测距信息的差分，计算在多个方向的各方向上物体相对于传感器(1)的移动距离作为移动信息(32)。校正方向提取部(203)使用多个方向的各方向上的移动信息(32)计算物体的移动速度作为物体移动速度，根据物体移动速度，从多个方向提取校正测距信息(31)的方向作为校正方向(33)。测距信息校正部(301)计算在校正方向(33)上传感器(1)上次测定的时刻与传感器本次测位的时刻之间的校正时刻的从传感器(1)到物体的距离，作为校正后的测距信息(34)。

技术领域

本发明涉及测距校正装置、测距校正系统、测距校正方法和测距校正程序。

背景技术

在专利文献1中公开有扫描束状的光而在扫描面形成图像的二维光扫描装置。专利文献1的二维光扫描装置具有：偏转器，其在交叉的2轴方向偏转扫描从光源射出的光；以及控制单元，其使交叉的2轴方向的偏转角度以规定的频率和振幅变化。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第4952298号

发明内容

发明要解决的课题

LiDAR(Laser Imaging Detection and Ranging：激光成像检测和测距)这样的传感器用于测定相对于脉冲状发光的激光照射的散射光，分析到位于远方的物体的距离或该物体的性质。在LiDAR这样的传感器中，当利用现有技术的机构控制振幅和相位来计算各方向上的距离的情况下，在作为被摄体的物体移动时，相邻方向的测距结果有时不是相邻时刻的测距结果。并且，在直接利用这样的测距结果时，物体的大小或形状这样的检测结果变得不正确。

本发明的目的在于，提高使用传感器的测距信息的物体检测精度。

用于解决课题的手段

本发明的测距校正装置校正所述传感器在至少任意一方移动的传感器与物体之间在一个周期内测定出的测距信息，所述测距信息是从所述传感器到所述物体的多个方向的各方向上的距离，所述测距校正装置具有：

移动计算部，其根据由所述传感器本次测定出的测距信息与由所述传感器上次测定出的测距信息的差分，计算在所述多个方向的各方向上所述物体相对于所述传感器的移动距离作为移动信息；

校正方向提取部，其使用所述多个方向的各方向上的移动信息，计算所述物体的移动速度作为物体移动速度，根据所述物体移动速度，从所述多个方向中提取校正所述测距信息的方向作为校正方向；以及

测距信息校正部，其计算在所述校正方向上所述传感器上次测定的时刻与所述传感器本次测位的时刻之间的校正时刻的从所述传感器到所述物体的距离，作为校正后的测距信息。

发明效果

在本发明的测距校正装置中，校正方向提取部提取从传感器到物体的多个方向中的捕捉到物体的方向作为校正方向。测距信息校正部计算在校正方向上传感器上次测定的时刻与传感器本次测位的时刻之间的校正时刻的从传感器到物体的距离，作为校正后的测距信息。因此，根据本发明的测距校正装置，能够提高使用传感器的测距信息的物体检测精度。

附图说明

图1是表示对移动物体进行测距时的检测位置的图。

图2是将1帧的数据作为同一时间的数据表示的图。

图3是实施方式1的测距校正系统的结构图。

图4是表示实施方式1的测距校正系统的动作的流程图。

图5是表示实施方式1的传感器的测距的图。