[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 201880050433.4 | 申请日： | 2018-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN111033271A | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 金勤洙;郑宰欢 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/18;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;臧建明 |
| 地址： | 韩国釜山市江西*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 揭示一种用于测试待测试对象的电特性的测试装置。所述测试装置包括：测试电路板，包括绝缘基底基板、多个信号接触点及基板屏蔽部分，所述绝缘基底基板形成有印刷电路，所述多个信号接触点连接至所述印刷电路且向待测试对象施加测试信号，所述基板屏蔽部分在所述基底基板的厚度方向上形成于所述多个信号接触点之间；以及测试插座，包括多个信号引脚及导电区块，所述多个信号引脚接触所述多个信号接触点，所述导电区块以不接触的方式支撑所述多个信号引脚。此使得当高频高速半导体经历测试时在用于施加测试信号的各线路之间达成牢靠的噪音屏蔽，藉此提高测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
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