[发明专利]用于检测光学膜的缺陷的装置和方法有效
| 申请号： | 201880038427.7 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN110741245B | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 金浩振;杨命坤;崔恒硕;张应镇 | 申请（专利权）人： | 杉金光电（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/896 | 分类号： | G01N21/896;G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 南京华鑫君辉专利代理有限公司 32544 | 代理人： | 徐明慧 |
| 地址： | 215699 江苏省苏州市张家*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了能够容易地检测光学膜中/上存在的缺陷的用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。光学膜缺陷检测装置包括：用于照射光的光照射单元；用于通过反射由所述光照射单元照射的光而将光引导至光学膜的反射单元；用于显示投射形状的屏幕，所述投射形状是当将光投射到所述光学膜上时所述光学膜中的缺陷的投射；和用于采集显示在所述屏幕上的投射形状的图像的成像单元。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 光学 缺陷 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：/n发光单元，其发射光；/n反射单元，其反射由所述发光单元发射的光并将光引导至所述光学膜；/n屏幕，其显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷；和/n图像采集单元，其采集显示在所述屏幕上的所述投射形状的图像。/n
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