[发明专利]用于检测光学膜的缺陷的装置和方法有效
申请号: | 201880038427.7 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN110741245B | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 金浩振;杨命坤;崔恒硕;张应镇 | 申请(专利权)人: | 杉金光电(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01N21/896 | 分类号: | G01N21/896;G01N21/88;G01N21/95 |
代理公司: | 南京华鑫君辉专利代理有限公司 32544 | 代理人: | 徐明慧 |
地址: | 215699 江苏省苏州市张家*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 光学 缺陷 装置 方法 | ||
1.一种用于检测光学膜的缺陷的装置,所述装置包括:
发光单元,其发射光;
反射单元,其反射由所述发光单元发射的光并将光引导至所述光学膜;
屏幕,其显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷;和
图像采集单元,其采集显示在所述屏幕上的所述投射形状的图像;
其中所述屏幕与所述图像采集单元采集所述屏幕的图像的方向之间形成的第一角度θ1等于所述光学膜与投射在所述光学膜上的光之间形成的第二角度θ2。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一角度和所述第二角度为大于等于25°且小于等于48°。
3.根据权利要求1所述的装置,其中所述屏幕与所述光学膜的其上投射有光的区域之间的距离为大于等于90mm且小于等于130mm。
4.根据权利要求1所述的装置,其中所述发光单元上的发射光的点与所述反射单元上的反射光的点之间的距离为大于等于165mm且小于等于185mm。
5.根据权利要求1所述的装置,其中所述反射单元上的反射光的点与所述光学膜的由所述反射单元反射的光被引导至的区域之间的距离为大于等于580mm且小于等于650mm。
6.根据权利要求1所述的装置,还包括:
分析单元,其通过分析所述屏幕的被所述图像采集单元采集以显示所述投射形状的图像来检测所述光学膜的缺陷。
7.一种检测光学膜的缺陷的方法,所述方法包括:
向反射单元发射光;
将由所述反射单元反射的光投射在所述光学膜上;
通过采集显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷的屏幕的图像来获得图像,其中由图像采集单元采集所述屏幕的图像,所述屏幕与所述图像采集单元采集所述屏幕的图像的方向之间形成的第一角度θ1等于所述光学膜与投射在所述光学膜上的光之间形成的第二角度θ2;以及
通过分析所述图像来检测所述光学膜的缺陷。
8.根据权利要求7所述的方法,还包括:
通过使用辊对辊法供应所述光学膜。
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