[发明专利]用于检测光学膜的缺陷的装置和方法

说明书

本发明提供了能够容易地检测光学膜中/上存在的缺陷的用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。光学膜缺陷检测装置包括：用于照射光的光照射单元；用于通过反射由所述光照射单元照射的光而将光引导至光学膜的反射单元；用于显示投射形状的屏幕，所述投射形状是当将光投射到所述光学膜上时所述光学膜中的缺陷的投射；和用于采集显示在所述屏幕上的投射形状的图像的成像单元。

技术领域

本申请要求于2017年7月28日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2017-0096299号的优先权和权益，其全部内容通过引用并入本文。

本发明涉及用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。

背景技术

具有光学特性的光学膜用于制造包括液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)、等离子体显示面板(PDP)、电泳显示器(EPD)等的显示单元。通常，光学膜具有其中具有光学特性的偏光膜和用于保护偏光膜的保护膜彼此堆叠的结构。

在制造和运输光学膜的过程期间，在某些情况下可能在光学膜中/光学膜上出现具有各种形状的缺陷，例如当异物被引入光学膜中，光学膜被挤压，光学膜的表面被划伤或者光学膜起皱时。上述缺陷可能导致通过使用光学膜制造的显示单元的缺陷。

因此，需要能够检测光学膜中/光学膜上存在的具有各种形状的缺陷的技术。

韩国专利第10-1082699号(在下文中，称为专利文献1)提出了用于通过采集光学膜的图像来检测光学膜的缺陷的装置。专利文献1公开了通过使由光源发射的光穿过光学膜使得通过安装在面向光源的位置处的图像采集装置采集光学膜的图像来测试光学膜。

[相关技术文献]

[专利文献]

专利文献1：韩国专利第10-1082699号

发明内容

技术问题

本说明书致力于提供用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。

技术方案

本发明的一个示例性实施方案提供了用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：发光单元，其发射光；反射单元，其反射由发光单元发射的光并将光引导至光学膜；屏幕，其显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷；和图像采集单元，其采集显示在屏幕上的投射形状的图像。

本发明的另一个示例性实施方案提供了检测光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：向反射单元发射光；将由反射单元反射的光投射在光学膜上；通过采集显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷的屏幕的图像来获得图像；以及通过分析图像来检测光学膜的缺陷。

有益效果

根据本发明的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上的具有各种形状(例如挤压、划伤、折叠和起皱的形状)的缺陷。

根据本发明的示例性实施方案，由于由发光单元发射的光的光照射宽度被反射单元扩展，因此可以加宽可以检测光学膜的缺陷的区域。

根据本发明的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上存在的缺陷。

附图说明

图1是示意性地示出根据本发明的一个示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。

图2是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的由发光单元发射的光通过反射单元被引导至光学膜的状态的图。

图3是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的包括分析单元的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。