[发明专利]用于检测至少一个组件的光学组件检测系统和方法有效

专利信息
申请号: 201880028492.1 申请日: 2018-03-13
公开(公告)号: CN110651165B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 乌韦·弗朗茨·奥格斯特 申请(专利权)人: 米尔鲍尔有限两合公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G02B7/04
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 代理人: 韩登营
地址: 德国罗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种用于检测至少一个组件的至少一个表面的光学组件检测系统,其中,容纳部配置成将组件定位在照相机装置之前,以便借助照相机装置检测组件的第一表面。照相机装置包括图像传感器,其配置成接收组件的第一表面的反射光。光学组件检测系统还包括布置在反射光至图像传感器的光路中的第一光学有效元件和用于第一光学有效元件的调节装置。调节装置包括用于第一光学有效元件的支架。支架固定在空心圆柱形的镜筒的内侧上并且镜筒的纵向中心线与第一光学有效元件的光学轴线同轴。支架至少在镜筒纵向方向上可弹性弯曲。此外,调节装置包括配置成调节光学有效元件和图像传感器之间的相对距离的第一执行装置,以便使光学有效元件沿着光学轴线相对于图像传感器移位。
搜索关键词: 用于 检测 至少 一个 组件 光学 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于检测至少一个组件(B)的至少一个表面的光学组件检测系统(200),其中,容纳部(150)配置成将所述组件(B)定位在照相机装置(220)之前,以便借助所述照相机装置(220)检测所述组件(B)的第一表面(O),/n其中,所述照相机装置(220)包括图像传感器(230),其配置成接收所述组件(B)的所述第一表面(O)上的反射光(L);/n其中,所述光学组件检测系统(200)包括布置在所述反射光(L)至所述图像传感器(230)的光路中的第一光学有效元件(130)和用于所述第一光学有效元件(130)的调节装置(100),所述调节装置(100)包括:/n用于所述第一光学有效元件(130)的支架(140),其中,所述支架(140)固定在空心圆柱形的镜筒(110)的内侧上并且所述镜筒(110)的纵向中心线与所述第一光学有效元件(130)的光学轴线(OA)同轴,并且其中,所述支架(140)至少在镜筒纵向方向上可弹性弯曲;以及/n用于调节所述光学有效元件(130)和所述图像传感器(230)之间的相对距离的第一执行装置(120),以便使所述光学有效元件(130)沿着所述光学轴线(OA)相对于所述图像传感器(230)移位。/n
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