[发明专利]用于检测至少一个组件的光学组件检测系统和方法

权利要求书

1.一种用于检测至少一个组件(B)的至少一个表面的光学组件检测系统(200)，其包括容纳部(150)，所述容纳部(150)配置成将所述组件(B)定位在照相机装置(220)之前，以便借助所述照相机装置(220)检测所述组件(B)的第一表面(O)，

其中，所述照相机装置(220)包括图像传感器(230)，其配置成接收所述组件(B)的所述第一表面(O)上的反射光(L)；

其中，所述光学组件检测系统(200)包括布置在所述反射光(L)至所述图像传感器(230)的光路中的第一光学有效元件(130)、控制装置(ECU)、图像处理装置(BV)和用于所述第一光学有效元件(130)的调节装置(100)，所述调节装置(100)包括：

用于所述第一光学有效元件(130)的支架(140)，其中，所述支架(140)固定在空心圆柱形的镜筒(110)的内侧上并且所述镜筒(110)的纵向中心线与所述第一光学有效元件(130)的光学轴线(OA)同轴，并且其中，所述支架(140)至少在镜筒纵向方向上可弹性弯曲；以及

用于调节所述光学有效元件(130)和所述图像传感器(230)之间的相对距离的第一执行装置(120)，以便使所述光学有效元件(130)沿着所述光学轴线(OA)相对于所述图像传感器(230)移位，其中，所述控制装置(ECU)配置成控制所述第一执行装置(120)，

其中，所述图像处理装置(BV)配置成：

-借助所述图像传感器(230)来拍摄第一图像(BA)，所述第一图像被提供给所述图像处理装置(BV)；

-向所述控制装置(ECU)提供控制命令，所述控制装置配置成控制所述第一执行装置(120)，以便将所述第一光学有效元件(130)和所述图像传感器(230)之间的相对距离调节预定路径长度；

-借助所述图像传感器(230)来拍摄第二图像(BB)，所述第二图像被提供给所述图像处理装置(BV)；

其中，所述图像处理装置(BV)配置成，在拍摄所述第一图像(BA)之后或在拍摄所述第二图像(BB)之后：

-确定所述第一图像(BA)的第一多个图像区域(B1、B2)中的第一图像区域(B1)，在所述第一图像区域(B1)中所述反射光(L)的清晰度平面(SE)的第一部分区域投影在所述图像传感器(230)的所述图像传感器表面(231)上；以及

-确定所述第一图像(BA)的所述第一多个图像区域(B1、B2)中的第二图像区域(B2)，在所述第二图像区域中所述反射光(L)的所述清晰度平面(SE)的第二部分区域没有投影在所述图像传感器(230)的所述图像传感器表面(231)上；以及

-确定所述第二图像(BB)的第二多个图像区域(B3、B4)中的第三图像区域(B3)，在所述第三图像区域中所述反射光(L)的所述清晰度平面(SE)的第一部分区域没有投影在所述图像传感器(230)的所述图像传感器表面(231)上；以及

-确定所述第二图像(BB)的所述第二多个图像区域(B3、B4)中的第四图像区域(B4)，在所述第四图像区域(B4)中所述反射光(L)的所述清晰度平面(SE)的第二部分区域投影在所述图像传感器(230)的所述图像传感器表面(231)上。

2.根据权利要求1所述的光学组件检测系统(200)，

其中，所述第一执行装置(120)包括至少部分地包围所述支架(140)的线圈(121)；

其中，所述控制装置(ECU)配置成控制输送给所述线圈(121)、用于产生磁场的电流；

其中，所述支架(140)具有含软铁的或永磁的组件(141、142)，其配置成根据输送给所述线圈(121)的电流来使所述支架(140)沿着所述镜筒(110)的纵向中心线移位。

3.根据权利要求1所述的光学组件检测系统(200)，还包括：

至少一个光源，其配置成将光发送到所述组件(B)的所述第一表面(O)上；

其中，作为选项，所述控制装置(ECU)配置成通过控制所述第一执行装置(120)来调节所述第一光学有效元件(130)和所述图像传感器(230)之间的相对距离，以便将所述反射光(L)的清晰度平面(SE)投影到所述图像传感器的面向所述反射光(L)的图像传感器表面(231)上。