[发明专利]用于电子器件的测试装置的探针卡有效
| 申请号： | 201880027831.4 | 申请日： | 2018-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN110573890B | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 里卡尔多·李博瑞尼 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;黄谦 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于电子器件的测试装置的探针卡，包括：至少一个探针头(21)，该至少一个探针头容纳多个接触探针(22)，每个接触探针(22)具有适于抵接在待测器件(23)的多个接触垫上的至少一个接触尖端；以及主支撑件(27)和连接至主支撑件(27)并且适于作为空间变换器(24)实现在其相对两侧上的多个接触垫之间的距离的空间变换的中间支撑件(24)。适合地，探针卡(20)包括适于连结空间变换器(24)和主支撑件(27)的至少一个连接元件(30)，该连接元件(30)具有基本上为杆状的主体(30C)并且装配有第一端部(30A)和第二端部(30B)，第一端部(30A)包括适于接合在空间变换器(24)中形成的相应容纳空间中的至少一个端子部分(30A1)，第二端部(30B)适于抵接在连结至主支撑件(27)的抵接元件(28)上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子器件 测试 装置 探针 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子器件的测试装置的探针卡(20)，包括：/n容纳多个接触探针(22)的至少一个探针头(21)，每个接触探针(22)具有适于抵接在待测器件(23)的接触垫上的至少一个接触尖端(22A)；以及/n主支撑件(27)和连接至所述主支撑件的中间支撑件(24)，所述中间支撑件(24)适于作为空间变换器(24)实现在其相对两侧上的多个接触垫之间的距离的空间变换，其特征在于：/n所述探针卡(20)包括至少一个连接元件(30)，所述至少一个连接元件(30)适于连结所述空间变换器(24)和所述主支撑件(27)，所述至少一个连接元件(30)具有基本上为杆状的主体(30C)并且配备有第一端部(30A)和第二端部(30B)，所述第一端部(30A)包括至少一个端子部分(30A1)，该至少一个端子部分适于接合在所述空间变换器(24)中形成的相应容纳空间中，所述第二端部(30B)适于抵接在与所述主支撑件(27)连结的抵接元件(28)上。/n
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