[实用新型]一种PCB电路板高低温老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201822247869.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN209486208U 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 彭明波;董浩 申请(专利权)人: 苏州工业园区宜爱微测试科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市苏州工业园*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种PCB电路板高低温老化测试装置,包括高低温老化测试装置主体、固定板、手把和连接块,所述高低温老化测试装置主体内部设置有固定板,所述固定板之间设置有框架,所述框架上安装有第一挡杆,所述连接块的一侧固定有螺纹杆,所述螺纹杆的一侧内部设置有连接槽,所述连接槽的内部设置有第一挡杆的一端,所述第一挡杆上开设有卡槽,所述卡槽内部设置有第二挡杆。该PCB电路板高低温老化测试装置,设置有滑槽,因为滑槽的开口形状设置,使在对框架进行安装的时候,不需要将框架精准的对准滑槽开口,就可以将框架通过滑槽卡进固定板之间,使框架安装更加的方便,快速,提高固定板对框架安装效率。
搜索关键词: 老化测试装置 高低温 固定板 挡杆 内部设置 框架安装 连接槽 螺纹杆 滑槽 卡槽 本实用新型 滑槽开口 开口形状 主体内部 滑槽卡 手把 对准
【主权项】:
1.一种PCB电路板高低温老化测试装置,包括高低温老化测试装置主体(1)、固定板(7)、手把(14)和连接块(18),其特征在于:所述高低温老化测试装置主体(1)内部设置有固定板(7),所述固定板(7)之间设置有框架(11),所述框架(11)上安装有第一挡杆(15),其中,所述高低温老化测试装置主体(1)上安装有数控面板(2),所述高低温老化测试装置主体(1)的侧面设置有铰链(3),远离铰链(3)的所述高低温老化测试装置主体(1)的侧面设置有隔离盖(4),所述隔离盖(4)上安装有观察玻璃(5),所述高低温老化测试装置主体(1)内部外侧安装有密封圈(6);所述固定板(7)上开设有滑槽(8),所述滑槽(8)的一侧开设有凹槽(9),所述固定板(7)的两端开设有螺纹孔(10),所述滑槽(8)之间设置有框架(11);所述框架(11)的两端设置有内螺纹孔(12),所述框架(11)的一侧设置有凸块(13),所述凸块(13)安装在凹槽(9)的内部,所述手把(14)设置在框架(11)的一端,所述连接块(18)的一侧固定有螺纹杆(19),所述螺纹杆(19)贯穿手把(14)的两端和框架(11)相连,所述螺纹杆(19)的一侧内部设置有连接槽(20),所述连接槽(20)的内部设置有第一挡杆(15)的一端,所述第一挡杆(15)上开设有卡槽(16),所述卡槽(16)内部设置有第二挡杆(17)。
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