[实用新型]一种PCB电路板高低温老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体、固定板、手把和连接块，所述高低温老化测试装置主体内部设置有固定板，所述固定板之间设置有框架，所述框架上安装有第一挡杆，所述连接块的一侧固定有螺纹杆，所述螺纹杆的一侧内部设置有连接槽，所述连接槽的内部设置有第一挡杆的一端，所述第一挡杆上开设有卡槽，所述卡槽内部设置有第二挡杆。该PCB电路板高低温老化测试装置，设置有滑槽，因为滑槽的开口形状设置，使在对框架进行安装的时候，不需要将框架精准的对准滑槽开口，就可以将框架通过滑槽卡进固定板之间，使框架安装更加的方便，快速，提高固定板对框架安装效率。

技术领域

本实用新型涉及电路板检测设备技术领域，具体为一种PCB电路板高低温老化测试装置。

背景技术

集成电路是指将多种元器件安装到电路板上，通过在电路板上焊接各种元气件，形成闭合的电路，然后通过电路板上设置的电路控制连接的电器。

电路板在生产出来之后，需要抽取一部分进行检测，通过制定的检测装置，对电路板进行高低温检测，进而取得相关的检测数据，便于大规模生产。

目前市场上的PCB电路板高低温老化测试装置虽然种类和数量非常多，但是大多数的PCB电路板高低温老化测试装置有这样的缺点，不方便框架卡进高低温老化测试装置主体的内部，且框架放置到高低温老化测试装置主体内部后，框架容易发生滑动，并且框架上设置的挡杆不方便进行更换，因此要对现在的PCB电路板高低温老化测试装置进行改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种PCB电路板高低温老化测试装置，以解决上述背景技术提出的目前市场上的不方便框架卡进高低温老化测试装置主体的内部，且框架放置到高低温老化测试装置主体内部后，框架容易发生滑动，并且框架上设置的挡杆不方便进行更换的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体、固定板、手把和连接块，所述高低温老化测试装置主体内部设置有固定板，所述固定板之间设置有框架，所述框架上安装有第一挡杆，其中，

所述高低温老化测试装置主体上安装有数控面板，所述高低温老化测试装置主体的侧面设置有铰链，远离铰链的所述高低温老化测试装置主体的侧面设置有隔离盖，所述隔离盖上安装有观察玻璃，所述高低温老化测试装置主体内部外侧安装有密封圈；

所述固定板上开设有滑槽，所述滑槽的一侧开设有凹槽，所述固定板的两端开设有螺纹孔，所述滑槽之间设置有框架；

所述框架的两端设置有内螺纹孔，所述框架的一侧设置有凸块，所述凸块安装在凹槽的内部，所述手把设置在框架的一端，所述连接块的一侧固定有螺纹杆，所述螺纹杆贯穿手把的两端和框架相连，所述螺纹杆的一侧内部设置有连接槽，所述连接槽的内部设置有第一挡杆的一端，所述第一挡杆上开设有卡槽，所述卡槽内部设置有第二挡杆。

优选的，所述固定板上等距离设置有滑槽，所述滑槽的开口为左宽右窄，所述滑槽一侧的中心位置设置有凹槽。

优选的，所述框架的一侧均匀开设有内螺纹孔，所述框架和凸块之间为一体机构，所述凸块关于框架的中轴线对称。

优选的，所述第一挡杆通过卡槽和第二挡杆之间构成卡合结构，所述第二挡杆的长度和框架的宽度相吻合。

优选的，所述连接块和螺纹杆之间为一体结构，所述连接块通过螺纹杆与内螺纹孔和框架之间构成可拆卸结构，

优选的，所述连接槽的内部尺寸和第一挡杆的一端半径相吻合，所述第一挡杆通过连接槽和连接块之间构成卡合结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该PCB电路板高低温老化测试装置：