[实用新型]一种PCB电路板高低温老化测试装置

权利要求书

1.一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体（1）、固定板（7）、手把（14）和连接块（18），其特征在于：所述高低温老化测试装置主体（1）内部设置有固定板（7），所述固定板（7）之间设置有框架（11），所述框架（11）上安装有第一挡杆（15），其中，

所述高低温老化测试装置主体（1）上安装有数控面板（2），所述高低温老化测试装置主体（1）的侧面设置有铰链（3），远离铰链（3）的所述高低温老化测试装置主体（1）的侧面设置有隔离盖（4），所述隔离盖（4）上安装有观察玻璃（5），所述高低温老化测试装置主体（1）内部外侧安装有密封圈（6）；

所述固定板（7）上开设有滑槽（8），所述滑槽（8）的一侧开设有凹槽（9），所述固定板（7）的两端开设有螺纹孔（10），所述滑槽（8）之间设置有框架（11）；

所述框架（11）的两端设置有内螺纹孔（12），所述框架（11）的一侧设置有凸块（13），所述凸块（13）安装在凹槽（9）的内部，所述手把（14）设置在框架（11）的一端，所述连接块（18）的一侧固定有螺纹杆（19），所述螺纹杆（19）贯穿手把（14）的两端和框架（11）相连，所述螺纹杆（19）的一侧内部设置有连接槽（20），所述连接槽（20）的内部设置有第一挡杆（15）的一端，所述第一挡杆（15）上开设有卡槽（16），所述卡槽（16）内部设置有第二挡杆（17）。

2.根据权利要求1所述的一种PCB电路板高低温老化测试装置，其特征在于：所述固定板（7）上等距离设置有滑槽（8），所述滑槽（8）的开口为左宽右窄，所述滑槽（8）一侧的中心位置设置有凹槽（9）。

3.根据权利要求1所述的一种PCB电路板高低温老化测试装置，其特征在于：所述框架（11）的一侧均匀开设有内螺纹孔（12），所述框架（11）和凸块（13）之间为一体机构，所述凸块（13）关于框架（11）的中轴线对称。

4.根据权利要求1所述的一种PCB电路板高低温老化测试装置，其特征在于：所述第一挡杆（15）通过卡槽（16）和第二挡杆（17）之间构成卡合结构，所述第二挡杆（17）的长度和框架（11）的宽度相吻合。

5.根据权利要求1所述的一种PCB电路板高低温老化测试装置，其特征在于：所述连接块（18）和螺纹杆（19）之间为一体结构，所述连接块（18）通过螺纹杆（19）与内螺纹孔（12）和框架（11）之间构成可拆卸结构。

6.根据权利要求1所述的一种PCB电路板高低温老化测试装置，其特征在于：所述连接槽（20）的内部尺寸和第一挡杆（15）的一端半径相吻合，所述第一挡杆（15）通过连接槽（20）和连接块（18）之间构成卡合结构。