[实用新型]一种SOC芯片测试与验证系统有效
| 申请号： | 201821923916.4 | 申请日： | 2018-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN209746085U | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 颜军;孙凌燕;黄成;叶静静;石金明 | 申请（专利权）人： | 上海欧比特航天科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 44291 广东朗乾律师事务所 | 代理人： | 闫有幸<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 200000 上海市嘉定*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，包括：所述FPGA处理模块、电源模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A、测试电路、扩展测试模块；所述FPGA处理模块与电源模块、测试电路、扩展测试模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A连接；所述电源模块与所述FPGA处理模块、测试电路、扩展测试模块连接；本实用新型提供一种SOC芯片测试与验证系统，对PLC专用控制SOC芯片“CMPAC”和总线型SOC芯片“BUSOC”两种芯片进行批量测试，测试CMPAC芯片和BUSOC芯片所有功能是否正常，同时需要预留部分测试点以供查看信号时序是否正确，提高芯片的生产效率、保证了芯片产品的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 测试电路 电源模块 扩展测试 芯片 本实用新型 存储模块 验证系统 测试 模块连接 批量测试 生产效率 芯片产品 信号时序 专用控制 测试点 总线型 预留 保证 | ||
【主权项】：
1.一种SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，包括：FPGA处理模块、电源模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A、测试电路、扩展测试模块、A/D监测模块；所述FPGA处理模块与电源模块、测试电路、扩展测试模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A连接；所述电源模块与所述FPGA处理模块、测试电路、扩展测试模块连接；所述A/D监测模块与所述FPGA处理模块、扩展测试模块、被测芯片连接。/n
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