[实用新型]一种SOC芯片测试与验证系统

权利要求书

1.一种SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，包括：FPGA处理模块、电源模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A、测试电路、扩展测试模块、A/D监测模块；所述FPGA处理模块与电源模块、测试电路、扩展测试模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A连接；所述电源模块与所述FPGA处理模块、测试电路、扩展测试模块连接；所述A/D监测模块与所述FPGA处理模块、扩展测试模块、被测芯片连接。

2.根据权利要求1所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述FPGA处理模块，包括CPU、RS232接口、I/O接口、PWM模块、1553B接口；所述CPU与RS232接口、I/O接口、PWM模块、1553B接口连接。

3.根据权利要求1所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述电源模块，包括电流监测芯片、电源控制模块和隔离电源模块；所述电流监测芯片与所述电源控制模块、隔离电源模块连接；所述电源控制模块用于控制电源的通、断。

4.根据权利要求1所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述测试电路包测试电路A、测试电路B；所述测试电路A与被测芯片A连接；所述测试电路B与被测芯片B连接。

5.根据权利要求4所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述测试电路A包括外部中断测试电路A、计数器测试电路、1533B测试电路、DSU测试电路A、倍频测试电路A、GPIO测试电路A、SRAM测试电路A、FLASH测试电路A、IO测试电路A、A/D测试电路、16550测试电路和定时器测试电路；所述FPGA处理模块通过外部中断测试电路A、计数器测试电路、1533B测试电路、DSU测试电路A、倍频测试电路A、SRAM测试电路A、FLASH测试电路A、IO测试电路A、A/D测试电路、UART测试电路A、16550测试电路、定时器测试电路与所述被测芯片A连接；所述GPIO测试电路A、UART测试电路A的两个连接端都与所述被测芯片A连接。

6.根据权利要求5所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述测试电路A还包括SRAM存储模块B、SRAM存储模块C、FLASH存储器B；所述SRAM存储模块C通过所述IO测试电路与所述被测芯片A连接；所述FLASH存储器B通过所述FLASH测试电路A与所述被测芯片A连接；所述SRAM存储模块B通过所述SRAM测试电路A与所述被测芯片A连接。

7.根据权利要求4所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述测试电路B包括外部中断测试电路B、DSU测试电路B、倍频测试电路B、GPIO测试电路B、SRAM测试电路B、FLASH测试电路B、IO测试电路B、UART测试电路B、VBUS测试电路、HSC测试电路、DI/DO测试电路、MODBUS测试电路、SPI测试电路、16550测试电路B、PWM/PTO测试电路；所述FPGA处理模块通过外部中断测试电路B、DSU测试电路B、倍频测试电路B、VBUS测试电路、16550测试电路B与所述被测芯片B连接；所述GPIO测试电路B、UART测试电路B、HSC测试电路、DI/DO测试电路、MODBUS测试电路、PWM/PTO测试电路的两个连接端都与所述被测芯片B连接。

8.根据权利要求7所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述测试电路B还包括SRAM存储模块D、SRAM存储模块D、FLASH存储器C、EEPROM模块；所述SRAM存储模块D通过所述SRAM测试电路B与所述被测芯片B连接；所述FLASH存储器C通过所述FLASH测试电路B与所述被测芯片B连接；所述SRAM存储模块E通过所述IO测试电路B与所述被测芯片B连接；所述EEPROM模块通过SPI测试电路与所述被测芯片B连接。

9.根据权利要求5或7所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述测试电路还包括串并转换模块、三八译码器；所述GPIO测试电路A和GPIO测试电路B上都设置有所述串并转换模块；所述FLASH测试电路A和FLASH测试电路B上都设置有所述三八译码器。

10.根据权利要求5或7所述的SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，所述A/D监测模块包括AD转换芯片，所述AD转换芯片与所述FPGA处理模块、扩展测试模块、测试电路、被测芯片A和被测芯片B连接。