[实用新型]一种芯片测试治具有效
| 申请号： | 201821822335.1 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN209342764U | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王焰华 | 申请（专利权）人： | 深圳市富伟电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518104 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试治具，包括电路板、上翻盖、绝缘块、磁吸立柱、静电块、上检测模组、转轴、检测限位框模组、磁吸架、限位块，电路板电连接检测限位框模组，上翻盖前侧顶端中轴线安装有绝缘块，上翻盖前端位置安装有磁吸立柱，磁吸立柱两侧安装有静电块，上翻盖内置安装有上检测模组，上翻盖通过转轴与检测限位框模组连接，检测限位框模组前侧的磁吸架与磁吸立柱对应设置，限位块安装在转轴后端位置，一种芯片测试治具，本装置设计适用于芯片的检测，将待检测芯片放置在检测限位框模组内，手指控制绝缘块实现上翻盖和上检测模组闭合，磁吸立柱与磁吸架为磁吸式设计，保证闭合完全，静电块具有很好的防静电作用。 | ||
| 搜索关键词： | 磁吸 上翻盖 限位框 立柱 模组 芯片测试治具 静电 检测模 绝缘块 检测 转轴 电路板 闭合 限位块 本实用新型 电连接检测 后端位置 检测芯片 前端位置 手指控制 装置设计 磁吸式 防静电 中轴线 内置 芯片 保证 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括电路板（1）、上翻盖（2）、绝缘块（3）、磁吸立柱（4）、静电块（5）、上检测模组（6）、转轴（7）、检测限位框模组（8）、磁吸架（9）、限位块（10），电路板（1）电连接检测限位框模组（8），上翻盖（2）前侧顶端中轴线安装有绝缘块（3），上翻盖（2）前端位置安装有磁吸立柱（4），磁吸立柱（4）两侧安装有静电块（5），上翻盖（2）内置安装有上检测模组（6），上翻盖（2）通过转轴（7）与检测限位框模组（8）连接，检测限位框模组（8）前侧的磁吸架（9）与磁吸立柱（4）对应设置，限位块（10）安装在转轴（7）后端位置。
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