[实用新型]一种芯片测试治具有效
| 申请号： | 201821822335.1 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN209342764U | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王焰华 | 申请（专利权）人： | 深圳市富伟电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518104 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 磁吸 上翻盖 限位框 立柱 模组 芯片测试治具 静电 检测模 绝缘块 检测 转轴 电路板 闭合 限位块 本实用新型 电连接检测 后端位置 检测芯片 前端位置 手指控制 装置设计 磁吸式 防静电 中轴线 内置 芯片 保证 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括电路板（1）、上翻盖（2）、绝缘块（3）、磁吸立柱（4）、静电块（5）、上检测模组（6）、转轴（7）、检测限位框模组（8）、磁吸架（9）、限位块（10），电路板（1）电连接检测限位框模组（8），上翻盖（2）前侧顶端中轴线安装有绝缘块（3），上翻盖（2）前端位置安装有磁吸立柱（4），磁吸立柱（4）两侧安装有静电块（5），上翻盖（2）内置安装有上检测模组（6），上翻盖（2）通过转轴（7）与检测限位框模组（8）连接，检测限位框模组（8）前侧的磁吸架（9）与磁吸立柱（4）对应设置，限位块（10）安装在转轴（7）后端位置。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述检测限位框模组（8）内置安装有检测模组。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述磁吸架（9）由磁吸槽（11）、磁钢（12）、安装架（13）、防静电片（14）、静电导流立柱（15），磁吸槽（11）与磁吸立柱（4）对应设置，磁钢（12）安装在安装架（13）的安装槽内，防静电片（14）与静电导流立柱（15）电连接，防静电片（14）安装在安装架（13）两侧端。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述限位块（10）安装在转轴（7）后端位置，可以控制上翻盖（2）实现180°的翻转。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市富伟电子有限公司，未经深圳市富伟电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821822335.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于主板测试治具
- 下一篇：一种高压测试治具
